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1. (WO2014008359) SPECTROMÈTRE DOUBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/008359    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/049256
Date de publication : 09.01.2014 Date de dépôt international : 03.07.2013
CIB :
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/44 (2006.01)
Déposants : SMITHS DETECTION, INC. [US/US]; 21 Commerce Drive Danbury, CT 06810 (US)
Inventeurs : SCHIERING, David, W.; (US).
FRAYER, Maxim; (US).
ZOU, Peng; (US)
Mandataire : WEST, Kevin, E.; Advent, LLP 2425 South 144th Street Suite 202 Omaha, NE 68144 (US)
Données relatives à la priorité :
61/668,693 06.07.2012 US
Titre (EN) DUAL SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DOUBLE
Abrégé : front page image
(EN)Systems and techniques for optical spectrometer detection using, for example, IR spectroscopy components and Raman spectroscopy components are described. For instance, a system includes a first electromagnetic radiation source configured to illuminate a sample with a first portion of electromagnetic radiation in a first region of the electromagnetic spectrum (e.g., an IR source) and a second electromagnetic radiation source configured to illuminate a sample with a second portion of electromagnetic radiation in a second substantially monochromatic region of the electromagnetic spectrum (e.g., a laser source). The system also includes a detector module configured to detect a sample constituent of a sample by analyzing a characteristic of electromagnetic radiation reflected from the sample associated with the first electromagnetic radiation source and a characteristic of electromagnetic radiation reflected from the sample associated with the second electromagnetic radiation source.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des techniques pour détecter un spectromètre optique au moyen, par exemple, de composants de spectroscopie IR et de composants de spectroscopie Raman. Un système comprend, par exemple une première source de radiation électromagnétique conçue pour éclairer un échantillon au moyen d'une première partie de radiation électromagnétique dans une première région du spectre électromagnétique (par exemple, une source IR), et une seconde source de radiation électromagnétique conçue pour éclairer un échantillon au moyen d'une seconde partie de radiation électromagnétique dans une seconde région sensiblement monochromatique du spectre électromagnétique (par exemple, une source laser). Le système comprend également un module de détecteur conçu pour détecter un constituant d'échantillon par analyse d'une caractéristique de radiation électromagnétique réfléchie par l'échantillon associé à la première source de radiation électromagnétique et d'une caractéristique de radiation électromagnétique réfléchie par l'échantillon associé à la seconde source de radiation électromagnétique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)