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1. (WO2014007490) CIRCUIT D'ATTAQUE CONÇU POUR UN VÉHICULE ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC POUR DÉTERMINER SI UN COURT-CIRCUIT ÉLECTRIQUE AVEC UNE TENSION À LA TERRE SE TROUVE ENTRE UNE BOBINE DE CONTACTEUR ET UN AMPLIFICATEUR DE TENSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/007490    N° de la demande internationale :    PCT/KR2013/005729
Date de publication : 09.01.2014 Date de dépôt international : 27.06.2013
CIB :
B60L 11/18 (2006.01), H02H 3/16 (2006.01)
Déposants : LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 128, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul 150-721 (KR)
Inventeurs : BASHEER, Aneesh; (US)
Mandataire : PHIL & ONZI INT'L PATENT & LAW FIRM; 8F., 63, Banpo-daero, Seocho-gu, Seoul 137-872 (KR)
Données relatives à la priorité :
13/539,850 02.07.2012 US
Titre (EN) DRIVER CIRCUIT FOR AN ELECTRIC VEHICLE AND A DIAGNOSTIC METHOD FOR DETERMINING WHEN AN ELECTRICAL SHORT CIRCUIT TO A GROUND VOLTAGE IS PRESENT BETWEEN A CONTACTOR COIL AND A VOLTAGE DRIVER
(FR) CIRCUIT D'ATTAQUE CONÇU POUR UN VÉHICULE ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC POUR DÉTERMINER SI UN COURT-CIRCUIT ÉLECTRIQUE AVEC UNE TENSION À LA TERRE SE TROUVE ENTRE UNE BOBINE DE CONTACTEUR ET UN AMPLIFICATEUR DE TENSION
Abrégé : front page image
(EN)A driver circuit and a diagnostic method are provided. The driver circuit includes a first voltage driver, a second voltage driver, and a microprocessor. The microprocessor iteratively measures voltages on first and second sides of a contact to obtain a first plurality of voltage values and a second plurality of voltage values. The microprocessor determines first and second filtered voltage values based on the first and second plurality of voltage values, respectively. The microprocessor de-energizes a contactor coil if both the first filtered voltage value is substantially equal to the second filtered voltage value, and a first filtered current value is less than a threshold current value.
(FR)L'invention concerne un circuit d'attaque et un procédé de diagnostic. Ce circuit d'attaque comprend un premier amplificateur de tension, un deuxième amplificateur de tension et un microprocesseur. Le microprocesseur mesure des tensions de manière répétée au niveau d'un premier et d'un deuxième côté d'un contact pour obtenir une première pluralité de valeurs de tension et une deuxième pluralité de valeurs de tension. Le microprocesseur détermine des premières et des deuxièmes valeurs de tension filtrées, respectivement sur la base de la première et de la deuxième pluralité de valeurs de tension. Le microprocesseur désactive une bobine de contacteur si la première valeur de tension filtrée est sensiblement égale à la deuxième valeur de tension filtrée et si une première valeur de courant filtrée est inférieure à une valeur de courant seuil.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)