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1. (WO2014005682) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE SPIM
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/005682    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/001878
Date de publication : 09.01.2014 Date de dépôt international : 26.06.2013
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/16 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01), G02B 27/09 (2006.01)
Déposants : CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Inventeurs : SIEBENMORGEN, Jörg; (DE).
SINGER, Wolfgang; (DE).
ANHUT, Tiemo; (DE).
WOLLESCHENSKY, Ralf; (DE)
Mandataire : HAMPE, Holger; c/o Carl Zeiss AG Standort Jena Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2012 013 163.1 02.07.2012 DE
Titre (DE) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR SPIM MIKROSKOPIE
(EN) MICROSCOPE AND METHOD FOR SPIM MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE SPIM
Abrégé : front page image
(DE)Mikroskop, insbesondere nach einem der vorangehenden Ansprüche, bestehend aus einer Beleuchtungseinrichtung, umfassend eine Beleuchtungslichtquelle (3) und einen Beleuchtungsstrahlengang zur Beleuchtung der Probe (1) mit einem Lichtblatt, einer Detektierungseinrichtung zur Detektierung von Licht, das von der Probe (1) abgestrahlt wird, einer Abbildungsoptik, die die Probe (1) über ein Abbildungsobjektiv (7) in einem Abbildungsstrahlengang mindestens teilweise auf die Detektierungseinrichtung abbildet, wobei das Lichtblatt im Fokus des Abbildungsobjektivs (7) oder einer definierten Ebene in der Nähe des geometrischen Fokus des Abbildungsobjektivs im Wesentlichen eben ist und wobei das Abbildungsobjektiv (7) eine optische Achse aufweist, die die Ebene des Lichtblattes in einem von Null verschiedenen Winkel, bevorzugt senkrecht schneidet, wobei ein Amplituden- und/oder Phasenfilter im Beleuchtungsstrahlengang vorgesehen ist, der als Sinc Raumfilter wirkt indem er in mindestens einer Raumrichtung das Beleuchtungslicht durch Filterung der auftretenden Raumfrequenzen mit einer sinc Funktion limitiert und/ oder das Beleuchtungslicht bezüglich seiner Phase und Amplitude in mindestens einer Raumrichtung durch eine sinc Filterfunktion limitiert wird und/oder ein kombinierter Amplituden- und Phasenfilter im Beleuchtungsstrahlengang vorgesehen ist, der eine Formung des Lichtblattes durch Beeinflussung des Transsmissionsverlaufes der Beleuchtungslichtverteilung mit einer sinc Filterfunktion vornimmt.
(EN)A microscope, more particularly according to any of the preceding claims, consisting of an illumination device, comprising an illumination light source (3) and an illumination beam path for illuminating the sample (1) with a light sheet, a detection device for detecting light emitted by the sample (1), and an imaging optical unit, which images the sample (1) via an imaging objective (7) in an imaging beam path at least partly onto the detection device, wherein the light sheet is substantially planar at the focus of the imaging objective (7) or in a defined plane in proximity to the geometrical focus of the imaging objective, and wherein the imaging objective (7) has an optical axis which intersects the plane of the light sheet at an angle that differs from zero, preferably perpendicularly, wherein an amplitude and/or phase filter is provided in the illumination beam path, said filter acting as a sine spatial filter by limiting the illumination light in at least one spatial direction by filtering the spatial frequencies that occur with a sinc function and/or by limiting the illumination light with regard to the phase and amplitude thereof in at least one spatial direction by a sine filter function, and/or a combined amplitude and phase filter is provided in the illumination beam path, said filter shaping the light sheet by influencing the transmission profile of the illumination light distribution with a sinc filter function.
(FR)L'invention concerne un microscope, en particulier selon l'une quelconque des revendications précédentes, consistant en un dispositif d'éclairage comprenant une source de lumière (3) d'éclairage et un trajet des rayons d'éclairage pour l'éclairage de l'échantillon (1) par une lame de lumière, un dispositif de détection pour la détection de la lumière qui provient de l'échantillon (1), une optique de reproduction qui reproduit au moins en partie l'échantillon (1) par un objectif de reproduction (7) dans un trajet de rayons de reproduction sur le dispositif de détection. La lame de lumière est sensiblement plane dans le foyer de l'objectif de reproduction (7) ou dans un plan défini au voisinage du foyer géométrique de l'objectif de reproduction. L'objectif de reproduction (7) présente un axe optique qui coupe le plan de la lame de lumière selon un angle différent de zéro, de préférence perpendiculairement. Un filtre d'amplitudes et/ou de phases dans le trajet des rayons d'éclairage agit comme filtre spatial sine en ce qu'il limite la lumière d'éclairage dans au moins une direction de l'espace par filtration des fréquences spatiales par une fonction sinc et/ou en ce que la lumière d'éclairage est limitée du point de vue de sa phase et de son amplitude dans au moins une direction de l'espace par une fonction filtre sine, et/ou en ce qu'un filtre combiné d'amplitude et de phase dans le trajet des rayons d'éclairage procède à un formage de la lame de lumière par influencement du processus de transmission de la répartition de la lumière d'éclairage par une fonction de filtrage sinc.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)