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1. (WO2014005579) DISPOSITIF DE MESURE DE DIFFRACTION X INÉLASTIQUE RÉSONANTE D'UN ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/005579    N° de la demande internationale :    PCT/DE2013/100245
Date de publication : 09.01.2014 Date de dépôt international : 03.07.2013
CIB :
G01N 23/20 (2006.01)
Déposants : HELMHOLTZ-ZENTRUM BERLIN FÜR MATERIALIEN UND ENERGIE GMBH [DE/DE]; Hahn-Meitner-Platz 1 14109 Berlin (DE)
Inventeurs : ERKO, Alexei; (DE).
FÖHLISCH, Alexander; (DE).
REHANEK, Jens, Konstantin; (DE).
SCHÜSSLER-LANGEHEINE, Christian; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2012 013 530.0 05.07.2012 DE
Titre (DE) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG RESONANTER INELASTISCHER RÖNTGENSTREUUNG EINER PROBE
(EN) DEVICE FOR MEASURING RESONANT INELASTIC X-RAY SCATTERING OF A SAMPLE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE DIFFRACTION X INÉLASTIQUE RÉSONANTE D'UN ÉCHANTILLON
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die Messung resonanter inelastischer Rontgenstreuung einer Probe. Die Vorrichtung weist mindestens zwei kreuzdispersiv angeordnete Reflexionszonenplatten (1.RZP, 2.RZP) auf, wobei sich eine zu untersuchende Probe (P) im Strahlengang hinter der ersten Reflexionszonenplatte (1.RZP) befindet. Eine zweite Reflexionszonenplatte (2.RZP) dispergiert die von der Probe gestreute Strahlung senkrecht zur Dispersionsrichtung der ersten Reflexionszonenplatte (1.RZP). Im Fokus der ausfallenden gebeugten Strahlung der zweiten Reflexionszonenplatte (2.RZP) ist ein Mittel zur zweidimensionalen Detektion (D) der gestreuten Strahlung angeordnet.
(EN)The invention relates to a device for measuring resonant inelastic x-ray scattering of a sample. The device has at least two reflection zone plates (1.RZP, 2.RZP) which are arranged to allow cross-dispersion, a sample to be examined (P) being located in the beam path behind the first reflection zone plate (1.RZP). A second reflection zone plate (2.RZP) disperses the radiation scattered by the sample perpendicular to the dispersion direction of the first reflection zone plate (1.RZP). In the focus of the exiting diffracted radiation of the second reflection zone plate (2.RZP) is arranged a means for two-dimensional detection (D) of the scattered radiation.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour la mesure de la diffraction inélastique résonante de rayons X sur un échantillon. Le dispositif comporte au moins deux plaques de zones de réflexion (1.RZP, 2.RZP) disposées en dispersion croisée, un échantillon (P) à étudier se trouvant dans le trajet des rayons en aval de la première plaque de zone de réflexion (1.RZP). Une deuxième plaque de zone de réflexion (2.RZP) disperse le rayonnement diffracté par l'échantillon perpendiculairement à la direction de dispersion de la première plaque de zone de réflexion (1.RZP). Un moyen (D) pour la détection bidimensionnelle du rayonnement diffracté est disposé dans le foyer du rayonnement diffracté sortant de la deuxième plaque de zone de réflexion (2.RZP).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)