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1. (WO2014004534) ANALYSE DE DIAGRAMMES DE LUMIÈRE STRUCTURÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/004534    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/047657
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 25.06.2013
CIB :
G06T 15/06 (2011.01), H04N 13/02 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, California 95054 (US) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
AVIV, Ziv [IL/IL]; (IL) (US only).
STANHILL, David [IL/IL]; (IL) (US only).
FERENS, Ron [IL/IL]; (IL) (US only).
ZISS, Roi [IL/IL]; (IL) (US only)
Inventeurs : AVIV, Ziv; (IL).
STANHILL, David; (IL).
FERENS, Ron; (IL).
ZISS, Roi; (IL)
Mandataire : JORDAN, B. Delano; Jordan Ip Law, PC c/o CPA GLOBAL P.O. Box 52050 Minneapolis, Minnesota 55402 (US)
Données relatives à la priorité :
13/538,209 29.06.2012 US
Titre (EN) ANALYZING STRUCTURED LIGHT PATTERNS
(FR) ANALYSE DE DIAGRAMMES DE LUMIÈRE STRUCTURÉS
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods may include utilizing a structured light pattern that may be, among other things, decoded in the three directions (e.g., vertical, horizontal, and diagonal). In one example, the method may include detecting a first feature of a target image in a return image, designating a feature type of the first feature, and an index with the letter, wherein the index is associated with the pattern slide. The method may also include calculating a horizontal position in the pattern slide of the first feature, calculating a vertical position in the pattern slide of the first feature, and calculating a depth of the first feature.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés qui peuvent comprendre l'utilisation d'un diagramme de lumière structuré pouvant notamment être décodé dans les trois directions (par exemple à la verticale, à l'horizontale et en diagonale). Dans un exemple, le procédé peut comprendre la détection d'une première caractéristique d'une image cible dans une image de retour, et la désignation du type de la première caractéristique et d'un index avec la lettre, cet index étant associé au glissement de diagramme. Ledit procédé peut également comprendre le calcul d'une position horizontale dans le glissement de diagramme de la première caractéristique, le calcul d'une position verticale dans le glissement de diagramme de la première caractéristique, et le calcul de la profondeur de la première caractéristique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)