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1. (WO2014004450) DISPOSITIFS, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR COMPENSER DES EFFETS DE TEMPÉRATURE SUR DES CAPTEURS IMPLANTABLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/004450    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/047527
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 25.06.2013
CIB :
A61B 5/1486 (2006.01), A61B 5/145 (2006.01), A61B 5/1495 (2006.01)
Déposants : DEXCOM, INC. [US/US]; 6340 Sequence Drive San Diego, CA 92121 (US)
Inventeurs : ESTES, Michael, J.; (US).
BLACKWELL, Jennifer; (US).
BOHM, Sebastian; (US).
BOOCK, Robert, J.; (US).
PRYOR, Jack; (US).
SIMPSON, Peter, C.; (US).
WIGHTLIN, Matthew, D.; (US)
Mandataire : MILLER, Kimberly, J.; Knobbe Martens Olson & Bear LLP 2040 Main Street, Fourteenth Floor Irvine, CA 92614 (US)
Données relatives à la priorité :
61/666,618 29.06.2012 US
13/747,746 23.01.2013 US
Titre (EN) DEVICES, SYSTEMS, AND METHODS TO COMPENSATE FOR EFFECTS OF TEMPERATURE ON IMPLANTABLE SENSORS
(FR) DISPOSITIFS, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR COMPENSER DES EFFETS DE TEMPÉRATURE SUR DES CAPTEURS IMPLANTABLES
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for compensating for effects of temperature on implantable sensors are provided. In some embodiments, systems and methods are provided for measuring a temperature to determine a change in temperature in a sensor environment. In certain embodiments, a temperature compensation factor is determined based on a change in temperature of the sensor environment. The temperature compensation factor can be used in processing raw data of an analyte signal to report a more accurate analyte concentration, e.g., from a dual-electrode analyte sensor comprising a reference electrode 114 and a working electrode comprising an exposed portion of a surface of an elongated body 102A having an insulating material 104A disposed thereon, such that the working electrode is exposed via a radial window 106A in the insulator.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés de compensation d'effets de température sur des capteurs implantables. Dans certains modes de réalisation, l'invention propose des systèmes et procédés pour mesurer une température pour déterminer un changement en température dans un environnement de capteur. Dans certains modes de réalisation, un facteur de compensation de température est déterminé sur la base d'un changement en température dans l'environnement de capteur. Le facteur de compensation de température peut être utilisé dans le traitement de données brutes d'un signal d'analyte pour rapporter une concentration d'analyte plus précise, par exemple, à partir d'un capteur d'analyte à électrode double comprenant une électrode de référence 114 et une électrode de travail comprenant une partie exposée d'une surface d'un corps allongé 102A ayant une matière isolante 104A disposée sur celui-ci, de telle sorte que l'électrode de travail est exposée par l'intermédiaire d'une fenêtre radiale 106A dans l'isolant.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)