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1. (WO2014003557) DISPOSITIF DE MICROSCOPIE HAUT DÉBIT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/003557    N° de la demande internationale :    PCT/NL2013/050459
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 27.06.2013
CIB :
G01Q 10/06 (2010.01), G01Q 70/06 (2010.01), B82Y 35/00 (2011.01)
Déposants : NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO [NL/NL]; Schoemakerstraat 97 NL-2628 VK Delft (NL)
Inventeurs : VAN DEN BRABER, Rens; (NL).
VAN DEN DOOL, Teunis Cornelis; (NL).
SADEGHIAN MARNANI, Hamed; (NL).
RIJNVELD, Niek; (NL)
Mandataire : JANSEN, C.M.; Johan de Wittlaan 7 NL-2517 JR Den Haag (NL)
Données relatives à la priorité :
12174204.3 28.06.2012 EP
12175445.1 06.07.2012 EP
Titre (EN) HIGH THROUGHPUT MICROSCOPY DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPIE HAUT DÉBIT
Abrégé : front page image
(EN)An object is mounted on a surface of a sample carrier. Properties of the surface of the object are measured and/or modified by means of a plurality of independently movable heads, each comprising a microscopic probe. The heads being located between the surface of a reference grid plate and the surface of the sample carrier. Head specific target locations are selected for the heads. Each head is moved over the surface of the reference grid plate, to the target location of the head. During movement a position of the head is determined from markings on the reference grid plate sensed by sensor in the head. When the sensor has indicated that the head is at the target location selected for the head a force between the head and the reference grid plate is switched to seat and/or clamp the head on the reference grid plate.
(FR)Un objet est monté sur une surface de porte-échantillon. Les propriétés de la surface de l'objet sont mesurées et/ou modifiées au moyen d'une pluralité de têtes indépendamment mobiles, chacune d'elles comprenant une sonde microscopique. Les têtes sont disposées entre la surface d'une plaque de grille de référence et la surface du porte-échantillon. Les emplacements cibles spécifiques des têtes sont sélectionnés pour ces dernières. Chaque tête se déplace sur la surface de la plaque de grille de référence vers l'emplacement cible de ladite tête. Pendant un déplacement, une position de la tête est déterminée à partir de repères ménagés sur la plaque de grille de référence détectés par un capteur dans la tête. Lorsque le capteur a indiqué que la tête est sur l'emplacement cible sélectionné pour cette dernière, une force est appliquée entre la tête et la plaque de grille de référence afin d'asseoir et/ou de serrer la tête sur la plaque de grille de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)
Demande de signalement aux fins de licence Le déposant a demandé au Bureau international de signaler qu'il est disposé à concéder une(des) licence(s) portant sur l'invention ou les inventions revendiquée(s) dans la présente demande internationale.