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1. (WO2014003469) CIRCUIT D'ATTAQUE POUR UN VÉHICULE ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC POUR DÉTERMINER QUAND DES PREMIER ET SECOND DISPOSITIFS D'ATTAQUE EN TENSION SONT COURT-CIRCUITÉS À UNE TENSION ÉLEVÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/003469    N° de la demande internationale :    PCT/KR2013/005726
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 27.06.2013
CIB :
B60L 11/18 (2006.01), H02H 3/20 (2006.01)
Déposants : LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 128, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul 150-721 (KR)
Inventeurs : GRUPIDO, Craig William; (US)
Mandataire : PHIL & ONZI INT'L PATENT & LAW FIRM; 8F., 63, Banpo-daero, Seocho-gu, Seoul 137-872 (KR)
Données relatives à la priorité :
13/537,161 29.06.2012 US
Titre (EN) DRIVER CIRCUIT FOR AN ELECTRIC VEHICLE AND A DIAGNOSTIC METHOD FOR DETERMINING WHEN FIRST AND SECOND VOLTAGE DRIVERS ARE SHORTED TO A HIGH VOLTAGE
(FR) CIRCUIT D'ATTAQUE POUR UN VÉHICULE ÉLECTRIQUE ET PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC POUR DÉTERMINER QUAND DES PREMIER ET SECOND DISPOSITIFS D'ATTAQUE EN TENSION SONT COURT-CIRCUITÉS À UNE TENSION ÉLEVÉE
Abrégé : front page image
(EN)A driver circuit and a diagnostic method are provided. The driver circuit includes a first voltage driver, a second voltage driver, and a microprocessor. The microprocessor generates a first pulse width modulated signal to induce the first voltage driver to output a second pulse width modulated signal to energize a contactor coil. The microprocessor sets a first diagnostic flag equal to a first value if a first filtered voltage value is greater than a first threshold value. The microprocessor sets a second diagnostic flag equal to a second value if a second filtered voltage value is greater than a second threshold value. The microprocessor stops generating the first pulse width modulated signal to de-energize the contactor coil if the first and second diagnostic flags are set equal to the first and second values, respectively.
(FR)L'invention porte sur un circuit d'attaque et sur un procédé de diagnostic. Le circuit d'attaque comprend un premier dispositif d'attaque en tension, un second dispositif d'attaque en tension et un microprocesseur. Le microprocesseur génère un premier signal modulé en largeur d'impulsion pour induire le premier dispositif d'attaque en tension à délivrer en sortie un second signal modulé en largeur d'impulsion afin d'alimenter un enroulement de contacteur. Le microprocesseur règle un premier indicateur de diagnostic égal à une première valeur si une première valeur de tension filtrée est supérieure à une première valeur de seuil. Le microprocesseur règle un second indicateur de diagnostic égal à une seconde valeur si une seconde valeur de tension filtrée est supérieure à une seconde valeur de seuil. Le microprocesseur arrête de générer le premier signal modulé en largeur d'impulsion afin de désalimenter l'enroulement de contacteur si les premier et second indicateurs de diagnostic sont réglés de façon à être égaux aux première et seconde valeurs, respelimentement.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)