WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014002636) DISPOSITIF DE MESURE DE L'ASPECT DE GRAINS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/002636    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/063700
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 16.05.2013
CIB :
G01N 21/85 (2006.01)
Déposants : SATAKE CORPORATION [JP/JP]; 7-2, Sotokanda 4-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010021 (JP) (Tous Sauf US).
MATSUSHIMA Hideaki [JP/JP]; (JP) (US only).
ISHIZUKI Hiroki [JP/JP]; (JP) (US only).
TAKEUCHI Hiroaki [JP/JP]; (JP) (US only)
Inventeurs : MATSUSHIMA Hideaki; (JP).
ISHIZUKI Hiroki; (JP).
TAKEUCHI Hiroaki; (JP)
Mandataire : AIWA INTERNATIONAL PATENT AGENCY; 4F., Konwa Bldg., 12-22, Tsukiji 1-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040045 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-143709 27.06.2012 JP
Titre (EN) DEVICE FOR MEASURING APPEARANCE OF GRAINS
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE L'ASPECT DE GRAINS
(JA) 穀粒外観測定装置
Abrégé : front page image
(EN)The invention addresses the technical problem of simultaneously performing an optical scan and performing a visual pseudo-inspection of an aggregate image by way of a grain observation plate by optically scanning grains using image information of grains imaged by an imaging device and creating the aggregate image (pseudo image) of grains deposited on the grain observation plate using the image information. Thus, a device for measuring appearance of grains comprises: an imaging means for imaging a plurality of grains; an analyzing means for analyzing the image information, imaged by way of the imaging means, for each grain; a processing means for forming an aggregate image by processing the image information; and a means for storing and/or displaying the aggregate image processed by the processing means. The processing means forms the aggregate image of the grains by extracting images of single grains from the image information and arranging the extracted single grain images for each grain in a state of being in close mutual contact.
(FR)La présente invention concerne le problème technique consistant à effectuer simultanément un examen par lecture optique et un pseudo contrôle visuel d'une image d'un agrégat au moyen d'une plaque d'observation de grains par examen par lecture optique des grains à l'aide de données image des grains acquises par un dispositif d'imagerie et créer l'image de l'agrégat (pseudo image) de grains déposé sur la plaque d'observation de grains à l'aide des données image. Ainsi, un dispositif permettant de mesure l'aspect de grains comprend : un moyen d'imagerie permettant d'acquérir une pluralité de grains ; un moyen d'analyse permettant d'analyser les données image, acquises par le biais du moyen d'imagerie, pour chaque grain ; un moyen de traitement permettant de former une image de l'agrégat par traitement des données image ; et un moyen de stockage et/ou d'affichage de l'image de l'agrégat traitée par le moyen de traitement. Le moyen de traitement forme l'image de l'agrégat des grains par extraction des images de grains uniques des données image et par arrangement des images de grains uniques extraites pour chaque grain en contact mutuel étroit.
(JA) 撮像装置で撮像した穀粒の画像情報を用いて前記穀粒の光学的な検査を行うとともに、その画像情報を使用して、穀粒観察皿上に穀粒を投入した集合画像(疑似画像)を作成することで、光学的な検査を行うと同時に、穀粒観察皿による目視での検査を前記集合画像によって擬似的に行えるようにすることを技術的課題とする。そのため、穀粒外観測定装置において、複数の穀粒を撮像する撮像手段と、該撮像手段により撮像した穀粒の画像情報を粒単位で分析する分析手段と、前記画像情報を加工して集合画像を形成する加工手段と、該加工手段により加工された集合画像を保存及び/又は表示する手段とから構成され、前記加工手段において、前記画像情報から穀粒の画像を粒単位で抽出し、抽出された粒単位の各穀粒の画像を互いに密接した状態で配置し、前記穀粒の画像の集合画像を形成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)