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1. (WO2014002387) DISPOSITIF DE CORRECTION DE FORCE ÉLECTROMOTRICE DE HALL ET MÉTHODE DE CORRECTION DE FORCE ÉLECTROMOTRICE DE HALL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/002387    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/003467
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 31.05.2013
CIB :
G01R 33/07 (2006.01), H01L 43/06 (2006.01)
Déposants : ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION [JP/JP]; 1-105, Kanda Jinbocho, Chiyoda-ku, Tokyo 1018101 (JP)
Inventeurs : FUJITA, Taisuke; (JP).
OKATAKE, Shigeki; (JP)
Mandataire : MORI, Tetsuya; Tokkyo Gyomu Hojin Nichiei Kokusai Tokkyo Jimusho, Shiroyama Trust Tower 32th Floor, 3-1, Toranomon 4-chome, Minato-ku, Tokyo 1056032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-147709 29.06.2012 JP
Titre (EN) HALL ELECTROMOTIVE FORCE CORRECTION DEVICE AND HALL ELECTROMOTIVE FORCE CORRECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE CORRECTION DE FORCE ÉLECTROMOTRICE DE HALL ET MÉTHODE DE CORRECTION DE FORCE ÉLECTROMOTRICE DE HALL
(JA) ホール起電力補正装置及びホール起電力補正方法
Abrégé : front page image
(EN)The present invention pertains to a Hall electromotive force correction device and Hall electromotive force correction method for highly accurately correcting the magnetic sensitivity of a Hall element by correcting the stress and correcting the temperature, while reducing an increase in layout surface area or increase in current consumed. A Hall resistance measurement unit (13) measures the Hall resistance value (VR) in two or more directions of conduction between a plurality of electrodes belonging to a Hall element (11). A Hall electromotive force measurement unit (14) measures the Hall electromotive force (VH) of the Hall element. A temperature measurement unit (15) measures the ambient temperature of the Hall element. A correction signal generation unit (20) corrects the Hall electromotive force on the basis of the Hall resistance value given by the Hall resistance measurement unit and the temperature output value (T) of the temperature measurement unit. A correction factor computation circuit (21) calculates a correction factor (K) from the Hall resistance value measured by the Hall resistance measurement unit and the temperature output value measured by the temperature measurement unit. The correction factor comprises a stress correction factor (Kσ) and a temperature correction factor (KT).
(FR)La présente invention concerne un dispositif de correction de force électromotrice de Hall et une méthode de correction de force électromotrice de Hall permettant de corriger de façon extrêmement précise la sensibilité magnétique d'un élément Hall en corrigeant les contraintes et en corrigeant la température, tout en réduisant une augmentation de l'aire de la surface du motif ou une augmentation du courant consommé. Une unité de mesure de résistance de Hall (13) mesure la valeur de la résistance de Hall (VR) dans au moins deux directions de conduction entre une pluralité d'électrodes appartenant à un élément Hall (11). Une unité de mesure de force électromotrice de Hall (14) mesure la force électromotrice de Hall (VH) de l'élément Hall. Une unité de mesure de température (15) mesure la température ambiante de l'élément Hall. Une unité de production de signal de correction (20) corrige la force électromotrice de Hall en fonction de la valeur de la résistance de Hall fournie par l'unité de mesure de résistance de Hall et de la valeur de température en sortie (T) de l'unité de mesure de température. Un circuit de calcul de facteur de correction (21) calcule un facteur de correction (K) à partir de la valeur de résistance de Hall mesurée par l'unité de mesure de résistance de Hall et la valeur de température en sortie mesurée par l'unité de mesure de température. Le facteur de correction comprend un facteur de correction de contraintes (Kσ) et un facteur de correction de température (KT).
(JA) 本発明は、レイアウト面積の増大や消費電流の増加を抑えつつ、応力補正と温度補正を行うことで、ホール素子の磁気感度を高精度に補正するホール起電力補正装置及びホール起電力補正方法に関する。ホール抵抗測定部(13)は、ホール素子(11)の有する複数の電極間の2方向以上の通電方向のホール抵抗値(V)を測定する。ホール起電力測定部(14)は、ホール素子のホール起電力(V)を測定する。温度測定部(15)は、ホール素子の環境温度を測定する。補正信号生成部(20)は、ホール抵抗測定部によるホール抵抗値と温度測定部の温度出力値(T)とに基づいてホール起電力を補正する。補正係数演算回路(21)は、ホール抵抗測定部により測定されたホール抵抗値と、温度測定部により測定された温度出力値とから補正係数(K)を算出する。補正係数は、応力補正係数(Kσ)と温度補正係数(K)とからなる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)