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1. (WO2014001157) BALAYAGE EFFICACE POUR LOCALISATION DE CIBLE PAR EM
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/001157    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/062654
Date de publication : 03.01.2014 Date de dépôt international : 18.06.2013
CIB :
H01J 37/26 (2006.01), H01J 37/28 (2006.01)
Déposants : ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL) [CH/CH]; EPFL - TTO Quartier de l'innovation - J CH-1015 Lausanne (CH)
Inventeurs : FUA, Pascal; (CH).
KNOTT, Graham; (CH).
SZNITMAN, Raphaël; (CH).
LUCCHI, Aurélien; (CH)
Mandataire : P&TS SA; Av. J.-J. Rousseau 4 P.O. Box 2848 CH-2001 Neuchâtel (CH)
Données relatives à la priorité :
13/535,497 28.06.2012 US
Titre (EN) EFFICIENT SCANNING FOR EM BASED TARGET LOCALIZATION
(FR) BALAYAGE EFFICACE POUR LOCALISATION DE CIBLE PAR EM
Abrégé : front page image
(EN)We presented an approach for speeding-up image acquisition when tasked with localizing specific structures in FIB-SEM imagery. It exploits the fact that low-quality images can be acquired faster than higher-quality ones and yet be sufficient for inference purposes. We have demonstrated greater than five-fold speed-ups at very little loss in accuracy in the context of mitochondria and synapse detection. Furthermore, the algorithm we propose is generic and applicable to many imaging modalities that allow trading quality for speed. The disclosed method of data acquisition for an apparatus having a Scanning Electron Microscope (SEM) for microscopic imaging and a Focused Ion Beam (FIB) unit for sample milling comprises the following steps: scanning a sample with the SEM to obtain an image region (I'); analyzing the image region with a classifier function (hi ) that operates on the image region and returns a classification image whose content depends on whether the classifier estimates that a pixel in the image region belongs to a determined target structure or not; searching in the classification image for disjoint regions that indicate potential target locations and adding the regions so found to a list of candidates; iterating the steps of scanning, analyzing and searching on the members of the list of candidates.
(FR)L'invention concerne un procédé pour accélérer l'acquisition d'images lors d'une tâche de localisation de structures spécifiques en imagerie FIB-SEM. On utilise le fait que des images basse qualité peuvent être acquises plus rapidement que des images haute qualité mais soient suffisantes à des fins d'inférence. On a démontré des accélérations plus de cinq fois supérieures avec des pertes de précision très faibles dans le contexte de détection de mitochondries et de synapses. En outre, l'algorithme proposé est générique et applicable à de nombreuses modalités d'imagerie qui permettent de diminuer la qualité pour augmenter la vitesse. Ce procédé d'acquisition de données pour un appareil comprenant un microscope à balayage électronique (SEM) pour imagerie microscopique et une unité de faisceau d'ions focalisé (FIB) pour séparation d'échantillons, comprend les étapes suivantes : balayer un échantillon avec le SEM pour obtenir une région d'image (I') ; analyser la région d'image avec une fonction classeur (hi) qui agit sur la région d'image et renvoie une image de classification dont le contenu dépend de l'estimation faite par le classeur et indiquant qu'un pixel dans la région d'image appartient à une structure cible déterminée ou non ; rechercher dans l'image de classification des régions disjointes qui indiquent des emplacements cibles potentiels et ajouter les régions ainsi trouvées à une liste de candidats ; itérer les étapes de balayage, d'analyse et de recherches sur les éléments de la liste de candidats.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)