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1. (WO2013191674) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ANALYSE D'UN MATÉRIAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/191674    N° de la demande internationale :    PCT/US2012/042884
Date de publication : 27.12.2013 Date de dépôt international : 18.06.2012
CIB :
G01N 23/20 (2006.01), H01M 8/00 (2006.01)
Déposants : BALLARD POWER SYSTEMS INC. [CA/CA]; 9000 Glenlyon Parkway Burnaby, British Columbia V5J 5J8 (CA) (Tous Sauf US).
SHAO, Minhua [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SHAO, Minhua; (US)
Mandataire : BARRETT, Jared M.; Seed Intellectual Property Law Group PLLC 701 Fifth Avenue, Suite 5400 Seattle, WA 98104 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING A MATERIAL
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ANALYSE D'UN MATÉRIAU
Abrégé : front page image
(EN)An exemplary method of analyzing a material including platinum and palladium includes exposing the material to hydrogen. The hydrogen-exposed material is irradiated. A determination is made regarding a characteristic of the material based on a result of the irradiation.
(FR)Cette invention concerne un procédé, donné à titre d'exemple, permettant d'analyser un matériau contenant du platine et du palladium et consistant à exposer le matériau à de l'hydrogène. Le matériau exposé à l'hydrogène est irradié. Une caractéristique du matériau est déterminée en fonction du résultat de l'irradiation.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)