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1. (WO2013190980) PROCÉDÉ D'ANALYSE PAR ABSORPTION ATOMIQUE ET PHOTOMÈTRE D'ABSORPTION ATOMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/190980    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/065308
Date de publication : 27.12.2013 Date de dépôt international : 03.06.2013
CIB :
G01N 21/31 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : TOBE Hayato; (JP).
ISHIDA Hiroyasu; (JP).
SAKAMOTO Hideyuki; (JP)
Mandataire : INOUE Manabu; c/o HITACHI, LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-137408 19.06.2012 JP
Titre (EN) METHOD OF ATOMIC ABSORPTION ANALYSIS AND ATOMIC ABSORPTION PHOTOMETER
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE PAR ABSORPTION ATOMIQUE ET PHOTOMÈTRE D'ABSORPTION ATOMIQUE
(JA) 原子吸光分析法及び原子吸光光度計
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an atomic absorption photometer with which a liquid measurement sample injected into a graphite tube is dried in a pre-measurement stage, wherein it is possible to determine whether the drying has been properly executed, and wherein a targeted measurement sensitivity and measurement reproducibility are provided with a minimum number of measurements and without many repetitions of measurement. The present invention comprises finding the absorbance of reference light, which is a component perpendicular to a magnetic field in light transmitted through a heating section, and determining there to be bumping of a sample if the duration of time where the absorbance of the reference light is greater than a predetermined value is within a predetermined duration of time; or alternatively finding the absorbance of sample light, which is a component parallel to a magnetic field in light transmitted through the heating section, and the absorbance of reference light, which is a component perpendicular to the magnetic field in light transmitted through the heating section, and determining there to be bumping of a sample if a corrected absorbance obtained by subtracting the reference light absorbance from the sample light absorbance is greater than a predetermined value.
(FR)L'invention concerne un photomètre d'absorption atomique à l'aide duquel un échantillon liquide de mesure injecté dans un tube en graphite est séché lors d'une étape de pré-mesure, caractérisé par la possibilité de déterminer si le séchage a été correctement exécuté, et assurant une sensibilité et une reproductibilité visées des mesures avec un nombre de mesures minimal et sans répétitions nombreuses des mesures. La présente invention comporte les étapes consistant à déterminer le facteur d'absorption d'une lumière de référence, qui est une composante perpendiculaire à un champ magnétique dans une lumière transmise à travers une section de chauffage, et à déterminer qu'il se produit un rebond d'un échantillon si la durée pendant laquelle le facteur d'absorption de la lumière de référence est supérieur à une valeur prédéterminée se situe dans la limite d'une durée prédéterminée ; ou, en variante, à déterminer le facteur d'absorption d'une lumière d'échantillon, qui est une composante parallèle à un champ magnétique dans la lumière transmise à travers la section de chauffage, et le facteur d'absorption de la lumière de référence, qui est une composante perpendiculaire au champ magnétique dans la lumière transmise à travers la section de chauffage, et à déterminer qu'il se produit un rebond d'un échantillon si un facteur d'absorption corrigé obtenu en soustrayant le facteur d'absorption de la lumière de référence du facteur d'absorption de la lumière d'échantillon est supérieur à une valeur prédéterminée.
(JA) 黒鉛管に注入された液体の測定試料を測定前段階に乾燥を行う原子吸光光度計において、乾燥が適切に実行されたか否かの判断ができ、かつ、測定を何度も繰り返さずに、最低限の測定回数で目標とする測定感度、測定再現性を提供する。 加熱部を通過した光の磁場に垂直な成分であるリファレンス光の吸光度を求め、当該リファレンス光の吸光度が、所定の値を超えた時間が所定の時間内であった場合に、試料の突沸があったと判定する。もしくは、前記加熱部を通過した光の磁場に平行な成分であるサンプル光の吸光度と、前記加熱部を通過した光の磁場に垂直な成分であるリファレンス光の吸光度と、を求め、前記サンプル光吸光度から前記リファレンス光吸光度を除いた補正吸光度が所定の値を超えた場合に、試料の突沸があったと判定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)