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1. (WO2013189955) DISPOSITIF DE TEST DE DISPOSITIFS DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/189955    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/062670
Date de publication : 27.12.2013 Date de dépôt international : 18.06.2013
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : MULTITEST ELEKTRONISCHE SYSTEME GMBH [DE/DE]; Aeussere Oberaustr. 4 83026 Rosenheim (DE)
Inventeurs : LORENZ, Bernhard; (DE)
Mandataire : DILG, Andreas; Dilg, Haeusler, Schindelmann Patentanwaltsgesellschaft mbH Leonrodstrasse 58 80636 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
12172426.4 18.06.2012 EP
Titre (EN) DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT DEVICES
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE DISPOSITIFS DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
Abrégé : front page image
(EN)The invention is based on a device for testing electronic component devices mounted on a substrate (9), having test pins (12) which can be placed on contact surfaces of the substrate (9). According to an embodiment of the invention, a frame-like support structure (14) is provided, which supports the substrate (9) such that the individual component devices (10) are located in open spaces of the support structure (14).
(FR)L'invention concerne un dispositif de test de dispositifs de composants électroniques montés sur un substrat (9), comprenant des broches (12) de test qui peuvent être placées sur des surfaces de contact du substrat (9). L'un des modes de réalisation de l'invention comporte une structure porteuse (14) semblable à un cadre, qui soutient le substrat (9) de telle façon que les dispositifs (10) de composants individuels soient situés dans des espaces dégagés de la structure porteuse (14).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)