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1. (WO2013188567) SOURCE DE RAYONS X COMMANDÉE PAR UN FROTTEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/188567    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/045473
Date de publication : 19.12.2013 Date de dépôt international : 12.06.2013
CIB :
H05G 1/02 (2006.01), H05G 1/52 (2006.01)
Déposants : TRIBOGENICS, INC. [US/US]; Suite 1 4040 Del Rey Avenue Marina Del Rey, California 90292 (US)
Inventeurs : CAMARA, Carlos; (US).
VALENTINE, Mark; (US)
Mandataire : CAVANAGH, Daniel M.; Suite 725 18200 Von Karman Ave. Irvine, California 92612 (US)
Données relatives à la priorité :
13/523,551 14.06.2012 US
Titre (EN) FRICTION DRIVEN X-RAY SOURCE
(FR) SOURCE DE RAYONS X COMMANDÉE PAR UN FROTTEMENT
Abrégé : front page image
(EN)A high energy radiation generator utilizes sliding friction in a low pressure environment to generate high energy radiation, for example x-rays. The sliding friction may be generated by sweeping one material against a second material, for example rotating a surface of a rotor against a membrane, in the presence of an electron target, which may be one of the first material or the second material, or a different material.
(FR)L'invention concerne un générateur de rayonnement à haute énergie qui utilise un frottement de glissement dans un environnement basse pression pour générer un rayonnement à haute énergie, par exemple des rayons x. Le frottement de glissement peut être généré par frottement d'un matériau contre un second matériau, par exemple rotation d'une surface d'un rotor contre une membrane, en présence d'une cible électronique qui peut être l'un du premier ou du second matériau ou un matériau différent.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)