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1. (WO2013187611) SONDE DE TEST ET SON PROCÉDÉ D'USINAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/187611    N° de la demande internationale :    PCT/KR2013/004504
Date de publication : 19.12.2013 Date de dépôt international : 23.05.2013
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : LEENO INDUSTRIAL INC. [KR/KR]; 10, 105 beon-gil, MieumSandan-ro Gangseo-gu Busan 618-220 (KR)
Inventeurs : LEE, Chae Yoon; (KR)
Mandataire : HUH, Sung-Won; 3rd Floor Leaders Bldg., 1599-11, Seocho-dong Seocho-gu Seoul 137-912 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2012-0062975 13.06.2012 KR
Titre (EN) TEST PROBE AND MACHINING METHOD THEREOF
(FR) SONDE DE TEST ET SON PROCÉDÉ D'USINAGE
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed are a test probe and a machining method of a test probe, the test probe including a plunger end part contacting a tested contact point, the plunger end part including a plurality of tips protruding toward the tested contact point, and at least one of the plurality of tips is a higher tip and at least another one of the plurality of tips is a lower tip that is lower than the higher tip.
(FR)L'invention concerne une sonde de test et un procédé d'usinage d'une sonde de test, la sonde de test comprenant une partie d'extrémité de poussoir entrant en contact avec un point de contact testé, la partie d'extrémité de poussoir comprenant une pluralité de pointes dépassant en direction du point de contact testé, au moins une pointe de la pluralité de pointes étant une pointe supérieure et au moins une autre pointe de la pluralité de pointes étant une pointe inférieure qui est plus basse que la pointe supérieure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)