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1. (WO2013187204) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE PARAMÈTRE DE SYNTHÈSE POUR APPAREIL DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/187204    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/064278
Date de publication : 19.12.2013 Date de dépôt international : 22.05.2013
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
Déposants : SHIMA SEIKI MFG., LTD. [JP/JP]; 85, Sakata, Wakayama-shi, Wakayama 6410003 (JP)
Inventeurs : IWAI Kazutaka; (JP).
SHIMO Kosuke; (JP)
Mandataire : SHIOIRI Akira; 4-1-503, Narihira-cho, Ashiya-shi, Hyogo 6590068 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-133505 13.06.2012 JP
Titre (EN) SYNTHESIS-PARAMETER GENERATION DEVICE FOR THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT APPARATUS
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE PARAMÈTRE DE SYNTHÈSE POUR APPAREIL DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 3次元計測装置のための合成パラメータの生成装置
Abrégé : front page image
(EN)A plurality of units comprising a projector for projecting a periodic lattice onto an object to be measured, and a camera for imaging the projected lattice are provided around the periphery of the object to be measured, and coordinate conversion is used to synthesize three-dimensional coordinates measured by each unit. A first lattice displayed on a reference surface is imaged, and a phase for the first lattice is obtained for each camera pixel and stored. A second lattice is projected from a projector onto the reference surface and imaged, and three-dimensional coordinates of the reference surface are obtained for each camera pixel and stored. Phases for each camera pixel are interpolated, subpixels having a common phase among cameras are generated, three-dimensional coordinates of each subpixel are obtained, and synthesis parameters are generated such that three-dimensional coordinates of subpixels having the same phase are in accordance among units. As a result, accuracy of synthesis parameters for coordinate conversion is improved.
(FR)Selon la présente invention, une pluralité d'unités comprenant un projecteur destiné à projeter un réseau périodique sur un objet à mesurer, et une caméra destinée à imager le réseau projeté sont disposées autour de la périphérie de l'objet à mesurer, et une conversion de coordonnées est utilisée pour synthétiser des coordonnées tridimensionnelles mesurées par chaque unité. Un premier réseau affiché sur une surface de référence est imagé, et une phase pour le premier réseau est obtenue pour chaque pixel de caméra et stockée. Un second réseau est projeté par un projecteur sur la surface de référence et imagé, et des coordonnées tridimensionnelles de la surface de référence sont obtenues pour chaque pixel de caméra et stockées. Des phases pour chaque pixel de caméra sont interpolées, des sous-pixels ayant une phase commune parmi des caméras sont générés, des coordonnées tridimensionnelles de chaque sous-pixel sont obtenues et des paramètres de synthèse sont générés de telle sorte que des coordonnées tridimensionnelles de sous-pixels ayant la même phase sont conformément parmi des unités. Par suite, une précision de paramètres de synthèse pour conversion de coordonnées est améliorée.
(JA) 周期的な格子を測定対象へ投影するプロジェクタと投影された格子を撮影するカメラとから成るユニットを測定対象の周囲に複数備え、各ユニットが計測した3次元座標を座標変換により合成する。基準面に表示された第1の格子を撮影し第1の格子に対する位相をカメラの画素毎に求めて記憶する。基準面にプロジェクタから第2の格子を投影して撮影し、基準面の3次元座標をカメラの画素毎に求めて記憶する。カメラの画素毎の位相を補間して、カメラ間で位相が共通のサブピクセルを生成すると共に、各サブピクセルの3次元座標を求め、位相が同じサブピクセルの3次元座標がユニット間で一致するように、合成パラメータを生成する。座標変換用の合成パラメータの精度を向上させる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)