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1. (WO2013186435) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE MESURE DE COMPOSANT OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/186435    N° de la demande internationale :    PCT/FI2013/050619
Date de publication : 19.12.2013 Date de dépôt international : 07.06.2013
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.04.2014    
CIB :
G01N 21/25 (2006.01)
Déposants : LABROX OY [FI/FI]; Rautakatu 5 FI-20520 Turku (FI)
Inventeurs : SALMELAINEN, Pauli; (FI).
YLI-KOSKI, Antero; (FI)
Mandataire : ESPATENT OY; Kaivokatu 10 D FI-00100 Helsinki (FI)
Données relatives à la priorité :
20125637 11.06.2012 FI
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL COMPONENT
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE MESURE DE COMPOSANT OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for measuring an optical component (160, 170, 190) of the apparatus, the apparatus comprising a radiation source (130) configured to form a measuring beam in a measuring channel (140), wherein the measured optical component configured to be in a first position outside the measuring channel and in a second position in the measuring channel; a first detector (110) configured to receive beams in the measuring channel; a second detector (150) configured to receive beams in the measuring channel; at least one processor; and at least one memory including computer program code. The at least one memory and the computer program code are configured to, with the at least one processor, cause the apparatus at least to select at least one of the first detector and the second detector to receive beams in the measuring channel, the measuring channel (140) being integrated to a photometer or a fluorescence channel of the apparatus; receive a first beam, using the selected detector, in the measuring channel, wherein the measured optical component is in the first position; receive a second beam, using the selected detector, in the measuring channel, wherein the measured optical component is in the second position; and determine the characteristics of the optical component based on the first beam and the second beam.
(FR)La présente invention porte sur un appareil de mesure de composant optique (160, 170, 190) de l'appareil, l'appareil comprenant une source de rayonnement (130) configurée pour former un faisceau de mesure dans un canal de mesure (140), le composant optique mesuré étant configuré pour être dans une première position à l'extérieur du canal de mesure et dans une seconde position dans le canal de mesure ; un premier détecteur (110) configuré pour recevoir des faisceaux dans le canal de mesure ; un second détecteur (150) configuré pour recevoir des faisceaux dans le canal de mesure ; au moins un processeur ; et au moins une mémoire comprenant un code de programme d'ordinateur. La ou les mémoires et le code de programme d'ordinateur sont configurés pour, avec le ou les processeurs, amener l'appareil au moins à choisir au moins l'un du premier détecteur et du second détecteur pour recevoir des faisceaux dans le canal de mesure, le canal de mesure (140) étant intégré à un photomètre ou un canal de fluorescence de l'appareil ; recevoir un premier faisceau, à l'aide du détecteur choisi, dans le canal de mesure, le composant optique mesuré étant dans la première position ; recevoir un second faisceau, à l'aide du détecteur choisi, dans le canal de mesure, le composant optique mesuré étant dans la seconde position ; et déterminer les caractéristiques du composant optique sur la base du premier faisceau et du second faisceau.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)