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1. (WO2013184817) SYSTÈME, PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTERMINER UNE POSITION FOCALE D'UN OBJECTIF DANS UN SYSTÈME D'IMAGERIE MICROSCOPIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/184817    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/044334
Date de publication : 12.12.2013 Date de dépôt international : 05.06.2013
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G01B 9/04 (2006.01)
Déposants : MOLECULAR DEVICES, LLC [US/US]; 1311 Orleans Drive Sunnyvale, California 94089 (US)
Inventeurs : COHEN, Avrum I.; (US)
Mandataire : FISHMAN, Bella; Molecular Devices, LLC 1311 Orleans Drive Sunnyvale, California 94089 (US)
Données relatives à la priorité :
13/491,017 07.06.2012 US
Titre (EN) SYSTEM, METHOD, AND DEVICE FOR DETERMINING A FOCAL POSITION OF AN OBJECTIVE IN A MICROSCOPY IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTÈME, PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTERMINER UNE POSITION FOCALE D'UN OBJECTIF DANS UN SYSTÈME D'IMAGERIE MICROSCOPIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A system and method of determining a focal position for an objective positioned at a measurement location of a sample holder in a microscopy imaging system are provided. The objective is moved to a position relative to the sample holder that corresponds to a distance between the objective and the sample holder. The sample holder has a conditioned upper surface. A focusing light beam is projected onto the sample holder when the objective is located at the position, and the objective focuses the focusing light beam on the sample holder. A reflected light beam resulting from reflection of the focusing light beam off the conditioned upper surface is observed. The focal position for the objective is determined based on the reflected light beam such that the objective produces an in focus image of a microscopy sample when the objective is located at the focal position.
(FR)La présente invention se rapporte à un système et à un procédé permettant de déterminer une position focale d'un objectif positionné au niveau d'un point de mesure d'un porte-échantillon dans un système d'imagerie microscopique. L'objectif est déplacé jusqu'à une position par rapport au porte-échantillon qui correspond à une distance entre l'objectif et le porte-échantillon. Le porte-échantillon comporte une surface supérieure conditionnée. Un faisceau de lumière de focalisation est projeté sur le porte-échantillon lorsque l'objectif est placé à la position et l'objectif fait converger le faisceau de lumière de focalisation sur le porte-échantillon. On observe un faisceau de lumière réfléchi qui résulte de la réflexion du faisceau de lumière de focalisation de la surface supérieure conditionnée. La position focale de l'objectif est déterminée sur la base du faisceau de lumière réfléchi de telle sorte que l'objectif produise une image nette d'un échantillon microscopique lorsque l'objectif est placé à la position focale.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)