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1. (WO2013183479) SUPPORT D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/183479    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/064608
Date de publication : 12.12.2013 Date de dépôt international : 27.05.2013
CIB :
G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP)
Inventeurs : NAKAMURA, Kiyoto; (JP).
TAKANO, Kazuo; (JP).
MASUDA, Noriyuki; (JP)
Mandataire : TOKOSHIE PATENT FIRM; Nishishinjuku KN Bldg., 22-27, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-128164 05.06.2012 JP
Titre (EN) TEST CARRIER
(FR) SUPPORT D'ESSAI
(JA) 試験用キャリア
Abrégé : front page image
(EN)This test carrier is provided with a base member (20) holding a die (90), and with a cover member (60). The base member is provided with a substrate having wiring connected electrically to the die (90), and said wiring comprises wiring (52) and a resistance section (53) having a higher resistance value than that of the wiring (52).
(FR)La présente invention porte sur un support d'essai qui comporte un élément de base (20) maintenant une puce (90), et ayant un élément de couverture (60). L'élément de base comporte un substrat ayant un câblage électriquement connecté à la puce (90), et ledit câblage comprend un câblage (52) et une section de résistance (53) ayant une valeur de résistance supérieure à celle du câblage (52).
(JA)ダイ90を保持するベース部材20とカバー部材60とを備え、ベース部材は、ダイ90と電気的に接続する配線を有した基板を備え、当該配線は、配線52と配線52の抵抗値より高い抵抗値をもつ抵抗部53とを有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)