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1. (WO2013183209) PROGRAMME D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/183209    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/002527
Date de publication : 12.12.2013 Date de dépôt international : 12.04.2013
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP)
Inventeurs : TAHARA, Yoshifumi; (JP).
ARISAWA, Akihiro; (JP).
SUZUKI, Takehisa; (JP)
Mandataire : MORISHITA, Sakaki; 2-11-12, Ebisu-Nishi, Shibuya-ku, Tokyo 1500021 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-127527 04.06.2012 JP
Titre (EN) TEST PROGRAM
(FR) PROGRAMME D'ESSAI
(JA) テストプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A test program controls tester hardware (100). The tester hardware (100) is configured so that at least a portion of functions thereof can be changed in response to configuration data (306) stored in a rewritable nonvolatile memory (102). This test program is configured as a combination of a control program and a testing algorithm module, and is provided with a function for receiving an instruction to select a testing item specified by a user from among testing items corresponding to the testing algorithm module retained in a memory apparatus (206), a function for receiving testing conditions necessary for executing the selected testing item, and a function for supplying a signal to a device under test in accordance with the testing algorithm and a testing condition and controlling the tester hardware so as to receive a signal from the device under test.
(FR)La présente invention porte sur un programme d'essai qui commande un matériel de testeur (100). Le matériel de testeur (100) est configuré de telle sorte qu'au moins une partie de ses fonctions puisse être changée en réponse à des données de configuration (306) stockées dans une mémoire non volatile réinscriptible (102). Le programme d'essai de la présente invention est configuré en tant qu'une combinaison d'un programme de commande et d'un module d'algorithme d'essai, et comporte une fonction pour recevoir une instruction pour choisir un objet d'essai spécifié par un utilisateur parmi des objets d'essai correspondant au module d'algorithme d'essai conservé dans un appareil à mémoire (206), une fonction pour recevoir des conditions d'essai nécessaires pour exécuter l'objet d'essai choisi, et une fonction pour fournir un signal à un dispositif à l'essai selon l'algorithme d'essai et une condition d'essai et commander la matière de testeur de manière à recevoir un signal provenant du dispositif à l'essai.
(JA) テストプログラムは、テスターハードウェア100を制御する。テスターハードウェア100は、書き換え可能な不揮発性メモリ102に格納されたコンフィギュレーションデータ306に応じて、少なくともその機能の一部が変更可能に構成される。本テストプログラムは、制御プログラムと、試験アルゴリズムモジュールとの組み合わせで構成され、記憶装置206に保持された試験アルゴリズムモジュールに対応する試験項目のうちから、ユーザが指定した試験項目の選択指示を受け付ける機能と、選択された試験項目を実行するために必要な試験条件を受け付ける機能と、試験アルゴリズムおよび試験条件にしたがって被試験デバイスに信号を供給し、被試験デバイスからの信号を受信するようテスターハードウェアを制御する機能と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)