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1. (WO2013181180) TESTEUR DE DÉFAUTS POUR RÉCIPIENTS OPAQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/181180    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/042977
Date de publication : 05.12.2013 Date de dépôt international : 29.05.2013
CIB :
G01N 21/90 (2006.01), B07C 5/34 (2006.01)
Déposants : BELVAC PRODUCTION MACHINERY, INC. [US/US]; 237 Graves Mill Road Lynchburg, Virginia 24502-4203 (US)
Inventeurs : PACKER, Stephen; (US).
KEESEE, Ric; (US).
SUPERNAW, Michael; (US)
Mandataire : GARETTO, Janet M.; Nixon Peabody LLP 300 S. Riverside Plaza 16th Floor Chicago, Illinois 60606 (US)
Données relatives à la priorité :
61/653,623 31.05.2012 US
13/800,655 13.03.2013 US
Titre (EN) DEFECT TESTER FOR OPAQUE RECEPTACLES
(FR) TESTEUR DE DÉFAUTS POUR RÉCIPIENTS OPAQUES
Abrégé : front page image
(EN)A defect tester for detecting a defect in an article in a machine arrangement includes a starwheel (3) having one or more pockets (3a) configured to hold respective one or more articles. The defect tester further includes one or more disks (4). Each of the one or more disks has one or more openings (6). Each of the one or more openings includes a covering (7) configured to form a seal with an open end of the article. The defect tester further includes one or more detector units (8) configured to detect a range of radiation wavelengths in an interior of the article. The radiation wavelengths are directed on an exterior of the article by means of one or more wavelength emitters (20). The one or more detector units are further configured to communicate to a controller whether a defect has been detected.
(FR)L'invention concerne un testeur de défauts permettant de détecter un défaut dans un article d'un dispositif de machine, qui comprend une roue étoilée (3) comportant une ou plusieurs paniers (3a) conçus pour contenir un ou plusieurs articles respectifs. Le testeur de défauts comprend de plus un ou plusieurs disques (4), qui comporte(nt) chacun une ou plusieurs ouvertures (6). Chacune des ouvertures comprend un couvercle (7), conçu pour former un joint étanche avec une extrémité ouverte de l'article. Le testeur de défauts comprend en outre une ou plusieurs unité(s) de détection (8), conçue(s) pour détecter une plage de longueurs d'onde de rayonnement à l'intérieur de l'article. Les longueurs d'onde de rayonnement sont dirigées sur une partie extérieure de l'article au moyen d'un ou de plusieurs émetteur(s) de longueur d'onde (20). De plus, la ou les unité(s) de détection est/sont conçue(s) pour communiquer avec un organe de commande si un défaut a été détecté.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)