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1. (WO2013181003) APPAREIL DE TEST D'ÉLECTRODE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/181003    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/041760
Date de publication : 05.12.2013 Date de dépôt international : 20.05.2013
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/312 (2006.01), G06F 3/044 (2006.01)
Déposants : 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY [US/US]; 3M Center Post Office Box 33427 Saint Paul, Minnesota 55133-3427 (US)
Inventeurs : BRITTAIN, Kenneth G.; (US).
HERBERT, Sammuel D.; (US).
DIAMOND, Neil F.; (US)
Mandataire : MOSHREFZADEH, Robert S.; 3M Center Office of Intellectual Property Counsel Post Office Box 33427 Saint Paul, Minnesota 55133-3427 (US)
Données relatives à la priorité :
13/483,746 30.05.2012 US
Titre (EN) ELECTRODE TESTING APPARATUS
(FR) APPAREIL DE TEST D'ÉLECTRODE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus to infer the resistivity of an electrode by stimulating the electrode with a capacitively coupled signal, and processing the resultant signal with circuitry that produces a signal having an amplitude that is a function of the resistivity of the electrode.
(FR)La présente invention concerne un appareil destiné à réduire la résistivité d'une électrode en stimulant l'électrode au moyen d'un signal couplé de manière capacitive et à traiter le signal obtenu au moyen de circuits qui produisent un signal dont l'amplitude est fonction de la résistivité de l'électrode.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)