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1. (WO2013178611) SYSTÈME DE CARACTÉRISATION OPTIQUE DE LENTILLES DE FRESNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/178611    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/060930
Date de publication : 05.12.2013 Date de dépôt international : 28.05.2013
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
Déposants : ORAFOL FRESNEL OPTICS GMBH [DE/DE]; Flurstedter Marktweg 13 99510 Apolda (DE)
Inventeurs : LAWIN, Meike; (DE).
KÜHNLENZ, Frank; (DE).
STIER, Matthias; (DE)
Mandataire : PFENNING, MEINIG & PARTNER GBR; An der Frauenkirche 20 01067 Dresden (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2012 010 960.1 30.05.2012 DE
Titre (DE) ANORDNUNG ZUR OPTISCHEN CHARAKTERISIERUNG VON FRESNELLINSEN
(EN) ARRANGEMENT FOR OPTICALLY CHARACTERIZING FRESNEL LENSES
(FR) SYSTÈME DE CARACTÉRISATION OPTIQUE DE LENTILLES DE FRESNEL
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur optischen Charakterisierung von Fresneilinsen mittels Wellenflächensensorik unter Einsatz eines Shack- Hartmann-Sensors. Bei der erfindungsgemäßen Anordnung wird elektromagnetische Strahlung einer Strahlungsquelle auf die Oberfläche einer Fresnellinse gerichtet und von dort an Wirkflanken der Fresnellinse gebrochene elektromagnetische Strahlung trifft auf ein Mikrolinsenarray auf. Von den einzelnen Mikrolinsen (A, B, C....) wird elektromagnetische Strahlung auf ein optisches Detektorarray zur Bestimmung von Intensitätsschwerpunkten der mit den Mikrolinsen (A, B, C,.....) fokussierten Strahlung gerichtet, wodurch Positionen von Fokusspots bestimmbar sind, die mit vorgegebenen Postionen mittels einer Auswertung verglichen werden. Die Strahlungsquelle kann breitbandige elektromagnetische Strahlung emittieren. Allein oder zusätzlich kann ein Verhältnis der Größe der effektiven Flächen von Wirkflanken einer jeweiligen zu charakterisierenden Fresnellinse pFRE zur Größe der effektiven Flächen der eingesetzten Mikrolinsen (A, B, C,....) PMLA von > 1 eingehalten sein. Es ist aber auch allein oder zusätzlich möglich ein optisches Teleskop zur Anpassung des Strukturgrößenverhältnisses der effektiven Flächen Mikrolinsen (A, B, C ) in Bezug zur Größe der effektiven Flächen der Wirkflanken im Strahlengang der elektromagnetischen Strahlung zwischen der Fresnellinse und dem Mikrolinsenarray anzuordnen. Das Mikrolinsenarray kann aber auch mit dem Detektorarray senkrecht zur optischen Achse translatorisch bewegt werden.
(EN)The invention relates to an arrangement for optically characterizing Fresnel lenses by means of a wave surface sensor system using a Shack-Hartmann wavefront sensor. In the arrangement according to the invention, electromagnetic radiation of a radiation source is directed onto the surface of a Fresnel lens. From there, the electromagnetic radiation which impinges on active edges of the Fresnel lens strikes a microlens array. The electromagnetic radiation is directed from the individual microlenses (A, B, C,....) onto an optical detector array in order to determine intensity focal points of the radiation focused by the microlenses (A, B, C,....), whereby positions of focal areas can be determined which are compared with specified positions by means of an evaluating process. The radiation source can emit broadband electromagnetic radiation. Alternatively or in addition thereto, a ratio of the size of the effective areas of active edges of each Fresnel lens pFRE to be characterized to the size of the effective areas of the used microlenses (A, B, C,....) PMLA can be kept at > 1. It is also possible alternatively or in addition thereto, however, to arrange an optical telescope in the beam path of the electromagnetic radiation between the Fresnel lens and the microlens array in order to adapt the structural size ratio of the effective areas of microlenses (A, B, C) to the size of the effective areas of the active edges. However, the microlens array can also be moved with the detector array in a translational manner perpendicularly to the optical axis.
(FR)L'invention concerne un système de caractérisation optique de lentilles de Fresnel au moyen de la technique de détection de surfaces d'ondes en utilisant un capteur de Shack-Hartmann. Dans le système selon l'invention, le rayonnement électromagnétique d'une source de rayonnement est dirigé sur la surface d'une lentille de Fresnel et, de là, un rayonnement électromagnétique réfracté sur des flancs actifs de la lentille de Fresnel vient frapper un réseau de microlentilles. Les microlentilles individuelles (A, B, C....) dirigent un rayonnement électromagnétique sur un réseau de détecteurs optiques servant à déterminer des barycentres d'intensité du rayonnement focalisé au moyen des microlentilles (A, B, C....), de sorte que peuvent être déterminées des positions de tâches focales qui sont comparées au moyen d'une évaluation à des positions prédéterminées. La source de rayonnement peut émettre un rayonnement électromagnétique à large bande. Un rapport entre la grandeur des surfaces effectives de flancs actifs d'une lentille de Fresnel pFRE à caractériser respective et la grandeur des surfaces effectives des microlentilles utilisées (A, B, C....) PMLA > 1 peut être respecté, uniquement ou en supplément. Il est toutefois aussi possible, uniquement ou en supplément, d'agencer entre la lentille de Fresnel et le réseau de microlentilles un télescope optique pour adapter le rapport des grandeurs de structure des surfaces effectives des microlentilles (A, B, C) en référence à la grandeur des surfaces effectives des flancs actifs dans la trajectoire des rayons du rayonnement électromagnétique. Le réseau de microlentilles peut toutefois également être déplacé en translation avec le réseau de détecteurs verticalement par rapport à l'axe optique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)