Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2013132072 - PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DE LA STRUCTURE GEOMETRIQUE D'UN COMPOSANT OPTIQUE

Numéro de publication WO/2013/132072
Date de publication 12.09.2013
N° de la demande internationale PCT/EP2013/054751
Date du dépôt international 08.03.2013
CIB
G01M 11/02 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11Test des appareils optiques; Test des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
02Test des propriétés optiques
G01B 11/24 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
CPC
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
G01M 11/025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
02Testing optical properties
0242by measuring geometrical properties or aberrations
025by determining the shape of the object to be tested
G01M 11/0264
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
02Testing optical properties
0242by measuring geometrical properties or aberrations
0257by analyzing the image formed by the object to be tested
0264by using targets or reference patterns
G01M 11/0271
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
02Testing optical properties
0242by measuring geometrical properties or aberrations
0271by using interferometric methods
Déposants
  • ESSILOR INTERNATIONAL (COMPAGNIE GÉNÉRALE D'OPTIQUE) [FR]/[FR]
Inventeurs
  • GUEU, Stéphane
  • LAVILLONNIERE, Nicolas
  • MURADORE, Fabien
  • LAKHOUA, Asma
Mandataires
  • KORAKIS-MENAGER, Sophie
Données relatives à la priorité
12290084.809.03.2012EP
Langue de publication Français (fr)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND TOOL FOR MEASURING THE GEOMETRIC STRUCTURE OF AN OPTICAL COMPONENT
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DE LA STRUCTURE GEOMETRIQUE D'UN COMPOSANT OPTIQUE
Abrégé
(EN) The subject of the present invention is a method and a system for measuring the geometric or optical structure of an optical component. In particular, the invention relates to a method for measuring the geometric structure of a component bounded by a first side (10) and a second side (20), said method comprising steps of: (S1) measuring a first signal (MS1) resulting from a first conversion of a first probe signal (PS1), by at least said first side (10); (S2) measuring a second signal (MS2) resulting from a second conversion of a second probe signal (PS2), by at least said second side (20); (S3) determining a third conversion making it possible to convert a first set of coordinates (R1) associated with the measurement of the first signal (MS1) to a second set of coordinates (R2) associated with the measurement of the second signal (MS2); (S10) estimating said first side (10) using the first signal (MS1), said first simulation and a first cost criterion (V1) quantifying a difference between the estimation (ES1) and the first signal (MS1); and (S20) estimating said second side (20) using the second signal (MS2), said second simulation, said third conversion and a second cost criterion (V2) quantifying a difference between the estimation (ES2) and the second signal (MS2).
(FR) La présente invention a pour objet un procédé et un système de mesure de la structure géométrique ou optique d'un composant optique. En particulier, l'invention concerne un procédé de mesure de la structure géométrique d'un composant délimité par une première face (10) et une deuxième face (20); ledit procédé comprenant les étapes de: - (S1) Mesure d'un premier signal (MS1) résultant d'une première transformation d'un premier signal sonde (PS1) par au moins ladite première face (10); - (S2) Mesure d'un deuxième signal (MS2) résultant d'une deuxième transformation d'un deuxième signal sonde (PS2) par au moins ladite deuxième face (20); - (S3) Détermination d'une troisième transformation permettant de passer d'un premier repère (R1) lié à la mesure du premier signal (MS1) à un deuxième repère (R2) lié à la mesure du deuxième signal (MS2); - (S10) Estimation de ladite première face (10) réalisée à partir du premier signal (MS1), de ladite première simulation et d'un premier critère de coût (V1) quantifiant un écart entre l'estimation (ES1) et le premier signal (MS1); - (S20) Estimation de ladite deuxième face (20) réalisée à partir du deuxième signal (MS2), de ladite deuxième simulation, de ladite troisième transformation et d'un deuxième critère de coût (V2) quantifiant un écart entre l'estimation (ES2) et le deuxième signal (MS2).
Documents de brevet associés
MXMX/a/2014/010784Cette demande ne peut pas être visualisée dans PATENTSCOPE car les données relatives à l'ouverture de la phase nationale n'ont pas encore été publiées ou sont émises par un pays qui ne partage pas de données avec l'OMPI ou il y a un problème de formatage ou d'indisponibilité de la demande.
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international