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1. (WO2013077882) ESSAIS DE COURANT POUR DES CONNECTEURS D'INTERFACE D'E/S
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/077882    N° de la demande internationale :    PCT/US2011/062124
Date de publication : 30.05.2013 Date de dépôt international : 23.11.2011
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard MS:RNB-4-150 Santa Clara, California 95052 (US) (Tous Sauf US).
THIRUVENGADAM, Bharani [IN/US]; (US) (US Seulement).
VUKIC, Mladenko [HR/US]; (US) (US Seulement).
MAK, Tak [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : THIRUVENGADAM, Bharani; (US).
VUKIC, Mladenko; (US).
MAK, Tak; (US)
Mandataire : LINDEEN III, Gordon R.; Blakely Sokoloff Taylor & Zafman Llp 1279 Oakmead Parkway Sunnyvale, California 94085 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CURRENT TESTS FOR I/O INTERFACE CONNECTORS
(FR) ESSAIS DE COURANT POUR DES CONNECTEURS D'INTERFACE D'E/S
Abrégé : front page image
(EN)Current tests for I/O interface connectors are described. In one example a test may include applying a forced energy to a first pin of an interface of a data communications bus of an integrated circuit on a die, sensing the energy caused by the forced energy at a second pin of the interface, and comparing the forced energy and the sensed energy to determine an amount of current leaked by at least a portion of the interface.
(FR)L'invention concerne des essais de courant pour des connecteurs d'interface d'E/S. Dans un exemple, un essai peut comprendre l'application d'une énergie forcée à une première broche d'une interface d'un bus de communication de données d'un circuit intégré sur une puce, la détection de l'énergie provoquée par l'énergie forcée au niveau d'une seconde broche de l'interface, et la comparaison de l'énergie forcée et de l'énergie détectée pour déterminer une quantité de courant perdue par au moins une partie de l'interface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)