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1. (WO2013072568) NANOSTRUCTURE ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE COURANT ÉLECTRIQUE CC
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/072568    N° de la demande internationale :    PCT/FI2012/051133
Date de publication : 23.05.2013 Date de dépôt international : 16.11.2012
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    16.09.2013    
CIB :
G01R 19/00 (2006.01), G01R 1/28 (2006.01), H01L 39/02 (2006.01), H01L 39/22 (2006.01), B82Y 35/00 (2011.01), B82B 1/00 (2006.01)
Déposants : ARUTYUNOV, Konstantin Yurievich [RU/FI]; (FI)
Inventeurs : ARUTYUNOV, Konstantin Yurievich; (FI).
LEHTINEN, Janne Samuel; (FI)
Mandataire : PAPULA OY; Mechelininkatu 1 a FI-00180 Helsinki (FI)
Données relatives à la priorité :
20110394 16.11.2011 FI
Titre (EN) NANOSTRUCTURE AND METHOD FOR DETERMINING A DC ELECTRIC CURRENT
(FR) NANOSTRUCTURE ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE COURANT ÉLECTRIQUE CC
Abrégé : front page image
(EN)A nanostructure for determining a DC electric current for use as a current standard comprises a nanowire (1), electrodes (2) arranged in a 4-probe measurement configuration and being electrically connected leading to contact pads (3), optional electrode for external radiation input (4), and optional ground plates (5), and is located on insulating substrate (6).
(FR)La présente invention porte sur une nanostructure de détermination de courant électrique CC à utiliser en tant que standard de courant, qui comprend un nanofil (1), des électrodes (2) agencées dans une configuration de mesure 4 sondes et étant électriquement reliées conduisant à des plots de contact (3), une électrode facultative pour entrée de rayonnement extérieur (4) et des plaques de masse facultatives (5), et est située sur un substrat isolant (6).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)