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1. (WO2013064033) ANALYSEUR DE PARTICULES ET PROCÉDÉ DE COMMANDE D'ESSAIS DE PARTICULES ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/064033    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/083512
Date de publication : 10.05.2013 Date de dépôt international : 25.10.2012
CIB :
G01N 15/12 (2006.01), G01N 15/00 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN MINDRAY BIO-MEDICAL ELECTRONICS CO., LTD [CN/CN]; Mindray Building Keji 12th Road South, High-tech Industrial Park, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventeurs : SHEN, Tao; (CN).
SHI, Huilin; (CN).
TENG, Jin; (CN).
GUO, Wenheng; (CN)
Mandataire : ADVANCE CHINA I.P. LAW OFFICE; Suite 918-920, Dongshan Plaza No.69 Xianlie Central Road Guangzhou, Guangdong 510095 (CN)
Données relatives à la priorité :
201110338176.4 31.10.2011 CN
Titre (EN) PARTICLE ANALYZER AND PARTICLE TEST CONTROL METHOD AND DEVICE THEREOF
(FR) ANALYSEUR DE PARTICULES ET PROCÉDÉ DE COMMANDE D'ESSAIS DE PARTICULES ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
(ZH) 粒子分析仪及其粒子测试控制方法、装置
Abrégé : front page image
(EN)An ion analyzer and a test control method and device thereof. The method comprises: extracting a diluted sample, preserving a part of the sample, and detecting whether a pore blocking event occurs during a technical test process; when the pore blocking event occurs, controlling to suspend the test of the sample, and performing an unblocking operation; and after the unblocking operation is completed, controlling a liquid adding system to again extract the preserved part of the sample from a reaction cell or a passage of the liquid adding system and inject the extracted sample into a counting cell, and then starting to perform a counting test through an impedance method again on the sample in the counting cell. The method makes full use of the remaining diluted sample for a second test to eliminate the impact of pore blocking that occurs in the first measurement of the sample on the test result, and the sample does not need to be again placed at a position under test for sample re-extraction and re-dilution, thereby reducing the probability of pore blocking. Also disclosed is a device using the method.
(FR)L'invention concerne un analyseur ionique et un procédé de commande d'essais et un dispositif associé. Le procédé comprend : l'extraction d'un échantillon dilué, la conservation d'une partie de l'échantillon et la détection de l'occurrence d'un évènement de blocage de pores pendant un procédé d'essai technique ; en cas d'occurrence de l'évènement de blocage de pores, la commande de la suspension de l'essai pour l'échantillon et la réalisation d'une opération de déblocage ; et, après l'achèvement de l'opération de déblocage, la commande d'un système d'ajout de liquide pour extraire la partie conservée de l'échantillon d'une cellule de réaction ou d'un passage du système d'ajout de liquide et l'injection de l'échantillon extrait dans une cellule de numération, puis le début de la réalisation d'un essai de numération par un procédé d'impédance sur l'échantillon dans la cellule de numération. Le procédé utilise pleinement l'échantillon dilué restant pour un second essai pour éliminer l'impact du blocage de pores qui a lieu pendant la première mesure de l'échantillon sur le résultat du test, et l'échantillon n'a pas à être de nouveau placé à une position testée pour la réextraction et la re-dilution de l'échantillon, ce qui réduit la probabilité de blocage des pores. L'invention concerne également un dispositif utilisant le procédé.
(ZH)一种离子分析仪及其测试控制方法、装置。该方法包括:在抽取稀释后的样本后保留部分样本,在技术测试过程中监测是否发生堵孔事件;当发生堵孔事件时则控制暂停样本的测试,并执行排堵操作;在排堵操作完成后控制加液系统再次从反应池或加液系统的管道中吸取保留的部分样本并注入计数池,然后重新开始对计数池中的样本再次进行阻抗法计数测试。该方法充分利用样本稀释后剩余的稀释样本进行第二次测试,消除该样本第一次测量时发生的堵孔对测试结果的影响,并且不需要将该样本重新放置到待测试位进行重吸样和重稀释,从而降低了堵孔概率。以及使用该方法的装置。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)