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1. (WO2013062275) NANOÉLECTRODE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CETTE DERNIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2013/062275 N° de la demande internationale : PCT/KR2012/008663
Date de publication : 02.05.2013 Date de dépôt international : 22.10.2012
CIB :
G01Q 70/16 (2010.01) ,G01Q 60/24 (2010.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
70
Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
16
Fabrication des sondes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24
Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
Déposants : POSTECH ACADEMY-INDUSTRY FOUNDATION[KR/KR]; San 31, Hyoja-dong, Nam-gu Pohang-si Gyeongsangbuk-do 790-784, KR
Inventeurs : LIM, Geunbae; KR
AN, Taechang; KR
LEE, Eunjoo; KR
Mandataire : YOU ME PATENT AND LAW FIRM; Seolim Bldg. 649-10, Yoksam-dong Kangnam-ku Seoul 135-080, KR
Données relatives à la priorité :
10-2011-010885824.10.2011KR
Titre (EN) NANO ELECTRODE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
(FR) NANOÉLECTRODE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE CETTE DERNIÈRE
(KO) 나노 전극 및 그 제조 방법
Abrégé :
(EN) A nano electrode according to the present invention includes a main body having a protruded probe, a nano wire attached to the probe, and an insulating film including an opening unit which surrounds the nano wire and makes an upper surface of the nano wire to be visible.
(FR) La présente invention se rapporte à une nanoélectrode qui comprend un corps principal qui comporte une sonde en saillie, un nanofil fixé à la sonde, et un film isolant qui comprend une unité d'ouverture qui entoure le nanofil et qui rend visible une surface supérieure du nanofil.
(KO) 본 발명에 따른 나노 전극은 돌출된 탐침을 가지는 본체, 탐침에 부착되어 있는 나노선, 나노선을 둘러싸고 있으며 나노선의 상면을 노출하는 개구부를 포함하는 절연막을 포함한다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)