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1. (WO2013058710) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR MESURE DE SURFACE 3D
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/058710    N° de la demande internationale :    PCT/SG2012/000386
Date de publication : 25.04.2013 Date de dépôt international : 17.10.2012
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.08.2013    
CIB :
G01B 11/25 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), G06T 7/40 (2006.01), G06T 17/30 (2006.01)
Déposants : NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY [SG/SG]; 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798 (SG)
Inventeurs : HUANG, Lei; (SG).
NG, Chi Seng; (SG).
KOH, Hoe Jyh; (SG).
ASUNDI, Anand Krishna; (SG)
Mandataire : ONG, Kheng Lu; Marks & Clerk Singapore LLP Tanjong Pagar P.O.Box 636 Singapore 910816 (SG).
TAN, Wen-Min Desmond; Marks & Clerk Singapore LLP Tanjong Pagar P.O.Box 636 Singapore 910816 (SG)
Données relatives à la priorité :
61/548,447 18.10.2011 US
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR 3D SURFACE MEASUREMENT
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR MESURE DE SURFACE 3D
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for 3D surface measurement of a target surface, the apparatus comprising: a first projector configured to project a fringe pattern onto the target surface; a second projector configured to project a fringe pattern onto the target surface; a first camera configured to capture the fringe patterns projected by the first projector and the second projector; a second camera configured to capture the fringe patterns projected by the first projector and the second projector; and a computer configured to perform fringe pattern processing of the fringe patterns captured by the first camera and the second camera and to perform data stitching and merging to obtain a 3D surface reconstruction.
(FR)La présente invention porte sur un appareil pour mesure de surface 3D d'une surface cible, l'appareil comprenant : un premier projecteur configuré pour projeter un motif de franges sur la surface cible; un second projecteur configuré pour projeter un motif de franges sur la surface cible; une première caméra configurée pour capturer les motifs de franges projetés par le premier projecteur et le second projecteur; une seconde caméra configurée pour capturer les motifs de franges projetés par le premier projecteur et le second projecteur; et un ordinateur configuré pour réaliser un traitement de motif de franges des motifs de franges capturés par la première caméra et la seconde caméra et pour réaliser un assemblage et une fusion de données pour obtenir une reconstruction de surface 3D.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)