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1. (WO2013054379) SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE ET PLAQUE-MIROIR POUR SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/054379    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/005731
Date de publication : 18.04.2013 Date de dépôt international : 13.10.2011
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    17.04.2012    
CIB :
G01J 1/02 (2006.01), G01J 1/00 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01)
Déposants : OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 26-3, Shodai-Tajika 3-chome, Hirakata-shi, Osaka 5731132 (JP) (Tous Sauf US).
LABSPHERE, INC. [US/US]; 231 Shaker Street, North Sutton, New Hampshire 03260 (US) (Tous Sauf US).
OHKUBO, Kazuaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MCKEE, Greg [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : OHKUBO, Kazuaki; (JP).
MCKEE, Greg; (US)
Mandataire : Fukami Patent Office, p.c.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM, OPTICAL MEASUREMENT METHOD, AND MIRROR PLATE FOR OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE ET PLAQUE-MIROIR POUR SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An optical measurement system (100) includes an integrating sphere (110) having a reflecting surface (110a) on its inner wall and having a first window (132). The optical measurement system further includes a support member (120) for supporting a light source at a substantially central position of the integrating sphere, and a first baffle (136) arranged on a line connecting the first window and the light source supported by the support member. The support member is connected, in a region opposite to the first window with respect to the light source, to the inner wall of the integrating sphere.
(FR)La présente invention concerne un système de mesure optique (100) comprenant une sphère d'intégration (110) comportant une surface réfléchissante (110a) sur sa paroi intérieure et possédant une première fenêtre (132). Le système de mesure optique comprend en outre un élément de support (120) destiné à supporter une source de lumière à une position sensiblement centrale de la sphère d'intégration, et un premier déflecteur (136) agencé sur une ligne reliant la première fenêtre et la source de lumière supportée par l'élément de support. L'élément de support est lié à la paroi intérieure de la sphère d'intégration, dans une région opposée à la première fenêtre par rapport à la source de lumière.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)