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1. (WO2013052495) SYSTÈME SUPPORT MULTICOUCHE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/052495    N° de la demande internationale :    PCT/US2012/058477
Date de publication : 11.04.2013 Date de dépôt international : 02.10.2012
CIB :
A61G 7/057 (2006.01)
Déposants : HUNTLEIGH TECHNOLOGY LIMITED [GB/GB]; ArjoHuntleigh House Houghton Hall Business Park, Houghton Regis Dunstable, Bedfordshire LU5 5XF (GB) (Tous Sauf US).
LOCKE, Christopher [GB/GB]; (US) (US only)
Inventeurs : LOCKE, Christopher; (US)
Mandataire : ROBINSON, Eagle, H.; Fulbright & Jaworski, L.L.P. 98 San Jacinto Boulevard, Suite 1100 Austin, TX 78701 (US)
Données relatives à la priorité :
61/542,451 03.10.2011 US
Titre (EN) MULTI-LAYERED SUPPORT SYSTEM
(FR) SYSTÈME SUPPORT MULTICOUCHE
Abrégé : front page image
(EN)A cover sheet (100) comprising: an electrically-conductive spacer material (110) comprising an upper surface (115), a lower surface (116) and a thickness (117) measured between the upper surface and the lower surface; a vapor permeable material (110) proximal to the upper surface of the electrically-conductive spacer material; an electrical circuit (200) configured to measure an electrical parameter that is related to the thickness of the electrically-conductive spacer material; and an indicator configured to provide an indication when the electrical parameter is outside a predetermined range.
(FR)Selon certains modes de réalisation, l'invention concerne un système support qui comprend une feuille protectrice dotée d'un matériau d'espacement électroconducteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)