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1. (WO2013051675) UNITÉ DE SONDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/051675    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/075862
Date de publication : 11.04.2013 Date de dépôt international : 04.10.2012
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004 (JP)
Inventeurs : MATSUI, Akihiro; (JP).
MORI, Takashi; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Données relatives à la priorité :
2011-223359 07.10.2011 JP
Titre (EN) PROBE UNIT
(FR) UNITÉ DE SONDES
(JA) プローブユニット
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a probe unit capable of reliably obtaining conduction with a contact target even for large currents. This probe unit is provided with: contact probes comprising a plunger that has a contact part which contacts an electrode of the body to be contacted, a flange part which extends from the base side of the contact part and has a diameter larger than that of the contact part, a boss part which extends from the end of the flange part on the side other than the side connected to the contact part and which has a diameter smaller than that of the flange part, and a base part which extends from the end of the boss part on the side other than the side connected to the flange part and which has approximately the same diameter as that of the boss unit, said contact probes further comprising a coil spring which is attached to the boss part; and a probe holder which is formed from a conductive material, which has a stepped shape with a reduced diameter in at both ends in the thickness direction, and which has multiple holder holes which accommodate the contact probes. The plunger is biased by the flange part contacting one of the steps of the stepped shape and the coil spring contacting the other step.
(FR)La présente invention concerne une unité de sondes qui est capable d'obtenir de manière fiable une conduction avec une cible de contact même en présence de courants élevés. L'unité de sondes de l'invention comprend : des sondes de contact comprenant un piston qui possède une partie contact qui entre en contact avec une électrode du corps avec lequel un contact doit être effectué, une partie bord qui s'étend à partir de la base de la partie contact et qui possède un diamètre supérieur à celui de la partie contact, une partie bossage qui s'étend à partir de l'extrémité de la partie bord d'un côté différent du côté fixé à la partie contact et qui possède un diamètre inférieur à celui de la partie bord, et une partie base qui s'étend à partir de l'extrémité de la partie bossage d'un côté différent au côté fixé à la partie bord et qui possède à peu près le même diamètre que celui de la partie bossage, lesdites sondes de contact comprenant en outre un ressort hélicoïdal fixé à la partie bossage ; et un support de sondes qui est formé à partir d'un matériau conducteur, qui possède une forme en gradins avec un diamètre réduit aux deux extrémités dans la direction de l'épaisseur et qui possède de multiples orifices de maintien logeant les sondes de contact. Le piston est sollicité par la partie bord en contact avec un des gradins de la forme en gradins et le ressort hélicoïdal en contact avec l'autre gradin.
(JA) 大電流を流した場合であっても、接触対象との間で確実な導通を得ることができるプローブユニットを提供すること。被接触体の電極と接触する接触部と、接触部の基端側から延び、接触部の径と比して大きい径を有するフランジ部と、フランジ部の接触部に連なる側と異なる側の端部から延び、フランジ部の径と比して小さい径を有するボス部と、ボス部のフランジ部に連なる側と異なる側の端部から延び、ボス部の径と略同一の径を有する基端部と、を有するプランジャと、ボス部に取り付けられるコイルばねと、を有するコンタクトプローブと、導電性材料で形成され、厚さ方向の両端が縮径した段付き形状をなし、コンタクトプローブを収容する複数のホルダ孔を有するプローブホルダと、を備え、フランジ部が段付き形状の一方の段部に当接するとともに、コイルばねが他方の段部に当接することで、プランジャを付勢する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)