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1. (WO2013049641) ENSEMBLE DE TEST COMPRENANT UNE PLATINE À MULTIPLES DEGRÉS DE LIBERTÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/049641    N° de la demande internationale :    PCT/US2012/058019
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 28.09.2012
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    26.07.2013    
CIB :
G02B 21/26 (2006.01), G02B 21/32 (2006.01), H01J 37/20 (2006.01), G21K 5/08 (2006.01), G21K 5/10 (2006.01)
Déposants : HYSITRON, INC. [US/US]; 9625 West 76th St. Eden Prairie, Minnesota 55344 (US)
Inventeurs : CYRANKOWSKI, Edward; (US).
ASIF, Syed Amanulla Syed; (US).
MAJOR, Ryan; (US).
RASUGU, Derek; (US).
FENG, Yuxin; (US)
Mandataire : MADDEN, Robert, B.; P.O. Box 2938 Minneapolis, Minnesota 55402-0938 (US)
Données relatives à la priorité :
61/540,317 28.09.2011 US
Titre (EN) TESTING ASSEMBLY INCLUDING A MULTIPLE DEGREE OF FREEDOM STAGE
(FR) ENSEMBLE DE TEST COMPRENANT UNE PLATINE À MULTIPLES DEGRÉS DE LIBERTÉ
Abrégé : front page image
(EN)A multiple degree of freedom sample stage or testing assembly including a multiple degree of freedom sample stage. The multiple degree of freedom sample stage includes a plurality of stages including linear, and one or more of rotation or tilt stages configured to position a sample in a plurality of orientations for access or observation by multiple instruments in a clustered volume that confines movement of the multiple degree of freedom sample stage. The multiple degree of freedom sample stage includes one or more clamping assemblies to statically hold the sample in place throughout observation and with the application of force to the sample, for instance by a mechanical testing instrument. Further, the multiple degree of freedom sample stage includes one or more cross roller bearing assemblies that substantially eliminate mechanical tolerance between elements of one or more stages in directions orthogonal to a moving axis of the respective stages.
(FR)L'invention porte sur une platine à échantillon à multiples degrés de liberté ou sur un ensemble de test comprenant une platine à échantillon à multiples degrés de liberté. La platine à échantillon à multiples degrés de liberté comprend une pluralité de platines comprenant une platine linéaire et une ou plusieurs parmi des platines de rotation ou à inclinaison, configurées de façon à positionner un échantillon dans une pluralité d'orientations pour l'accès ou l'observation par de multiples instruments dans un volume regroupé qui confine un mouvement de la platine à échantillon à multiples degrés de liberté. La platine à échantillon à multiples degrés de liberté comprend un ou plusieurs ensembles de serrage pour maintenir de façon statique l'échantillon en place tout au long de l'observation et avec l'application d'une force à l'échantillon, par exemple par un instrument de test mécanique. De plus, la platine à échantillon à multiples degrés de liberté comprend un ou plusieurs ensembles de roulements à rouleaux transversaux qui éliminent sensiblement une tolérance mécanique entre des éléments d'une ou plusieurs platines dans des directions orthogonales à un axe de déplacement des platines respectives.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)