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1. (WO2013048528) JTAG EN PAQUETS À TRAVERS DES INTERFACES INDUSTRIELLEMENT COMPATIBLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/048528    N° de la demande internationale :    PCT/US2011/054484
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 01.10.2011
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard MS: RNB-4-150 Santa Clara, California 95052 (US) (Tous Sauf US).
JONES, Keith [US/US]; (US) (US Seulement).
PFUNDER, Daniel [US/US]; (US) (US Seulement).
ZURAWSKI, John [GB/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : JONES, Keith; (US).
PFUNDER, Daniel; (US).
ZURAWSKI, John; (US)
Mandataire : BURNETT, R. Alan; R. Alan Burnett, PS c/o CPA GLOBAL P.O. Box 52050 Minneapolis, Minnesota 55402 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) PACKETIZING JTAG ACROSS INDUSTRY STANDARD INTERFACES
(FR) JTAG EN PAQUETS À TRAVERS DES INTERFACES INDUSTRIELLEMENT COMPATIBLES
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus and techniques for performing JTAG testing on production devices and systems through industry standard interfaces. The devices employ processors configured to receive packetized test input data from a tester over a standard communication interface such as a USB or Ethernet port and perform associated testing operations defined by the test input data, such as JTAG-compliant testing. This is facilitated, in part, via use of a bridge and one or more DFx handlers, with the bridge operating as an interface between the DFx handlers and a bus and/or interconnect over which test input and result data is transferred via the standard communication interface. The techniques enable testing such as JTAG testing to be performed on fully-assembled devices and systems without requiring the use of dedicated test or debug ports.
(FR)La présente invention concerne un appareil et des techniques pour effectuer un test JTAG sur des dispositifs et systèmes de production par l'intermédiaire d'interfaces industriellement compatibles. Les dispositifs utilisent des processeurs configurés pour recevoir des données d'entrée de test en paquets provenant d'un testeur par l'intermédiaire d'une interface de communication standard, telle qu'un port USB ou Ethernet, et pour exécuter les opérations de test associées définies par les données d'entrée de test, tel qu'un test conforme à JTAG. Ceci est facilité en partie par l'utilisation d'un pont et d'un ou de plusieurs gestionnaires DFx, le pont jouant le rôle d'interface entre les gestionnaires DFx et un bus et/ou une interconnexion sur laquelle les entrées de test et les données de résultat sont transférées par l'intermédiaire de l'interface de communication standard. Les techniques permettent d'effectuer des tests, tels qu'un test JTAG, sur des dispositifs et systèmes totalement assemblés sans qu'il soit nécessaire d'utiliser des ports dédiés de test ou de débogage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)