WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2013048348) DISPOSITIF ET PROCÉDURE DE TEST POUR DÉTERMINER LA QUALITÉ D'UN CIRCUIT MAGNÉTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/048348    N° de la demande internationale :    PCT/SI2011/000079
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 27.12.2011
CIB :
G01R 33/14 (2006.01), G01R 33/12 (2006.01), H01F 29/08 (2006.01)
Déposants : UNIVERZA V MARIBORU [SI/SI]; Fakulteta za Elektrotehniko, računalništvo in informatiko Smetanova 17 2000 Maribor (SI) (Tous Sauf US).
DOLINAR, Drago [SI/SI]; (SI) (US Seulement).
PETRUN, Martin [SI/SI]; (SI) (US Seulement).
KLOPČIČ, Beno [SI/SI]; (SI) (US Seulement)
Inventeurs : DOLINAR, Drago; (SI).
PETRUN, Martin; (SI).
KLOPČIČ, Beno; (SI)
Mandataire : MARN, Jure; Ljubljanska ulica 9 2000 Maribor (SI)
Données relatives à la priorité :
P-201100387 28.09.2011 SI
Titre (EN) DEVICE AND TESTING PROCEDURE FOR DETERMINATION OF MAGNETIC CIRCUIT QUALITY
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDURE DE TEST POUR DÉTERMINER LA QUALITÉ D'UN CIRCUIT MAGNÉTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The tester and the procedure of testing to determine the quality of magnetic circuits is based on pulse excitation and hysteresis control of primary current. The magnetic characteristic of the tested transformer iron core is evaluated on the basis of measured frequency of excitation and measured reactive power. The corresponding working point and tester operating range is chosen by changing the number of primary winding turns and by selecting switching current and voltage. All tests are performed by the standard existing inverter, so that there is no need for an expensive additional testing equipment. Transformer core testing is quick, effective and universal. The tests of already built-in cores are also possible. The entire magnetic circuit is evaluated by the described procedure taking into account influence of many factors, such as the type of material, lamination tickness, damages, treatment of the air gap, irregularities during construction, etc.
(FR)Le testeur et la procédure de test pour déterminer la qualité de circuits magnétiques sont basés sur l'excitation par impulsion et la régulation à hystérésis du courant primaire. La caractéristique magnétique du noyau en fer du transformateur testé est évaluée en fonction de la fréquence d'excitation mesurée et de la puissance réactive mesurée. Le point de fonctionnement correspondant et la gamme de fonctionnement du testeur sont choisis en modifiant le nombre d'enroulements du primaire et en sélectionnant l'intensité et la tension de commutation. Tous les tests sont effectués par l'onduleur standard existant, donc aucun équipement de test supplémentaire coûteux n'est nécessaire. Le test de noyau de transformateur est rapide, efficace et universel. Il est aussi possible d'effectuer le test des noyaux déjà montés. Tout le circuit magnétique est évalué par la procédure décrite, en prenant en compte l'influence d'un grand nombre de facteurs, tels que le type de matériau, l'épaisseur du laminage, les détériorations, le traitement de l'entrefer, les irrégularités lors de la construction, etc.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)