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1. (WO2013047685) DISPOSITIF POUR MESURER UN OBJET À MESURER, SON PROCÉDÉ DE TRAITEMENT ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/047685    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/074940
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 27.09.2012
CIB :
G08G 1/015 (2006.01), G01B 11/04 (2006.01), G01P 3/64 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 16-5, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1088215 (JP)
Inventeurs : OKAZAKI Takuma; (JP).
NAKAYAMA Hiroyuki; (JP)
Mandataire : MORI Ryuichirou; 1-9-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1006620 (JP)
Données relatives à la priorité :
2011-215482 29.09.2011 JP
Titre (EN) DEVICE FOR MEASURING AN OBJECT TO BE MEASURED, PROCESSING METHOD THEREOF, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF POUR MESURER UN OBJET À MESURER, SON PROCÉDÉ DE TRAITEMENT ET PROGRAMME
(JA) 測定対象物測定装置及びその処理方法とプログラム
Abrégé : front page image
(EN)This processing method in a device (10) for measuring an object to be measured involves inputting the strength of an optical signal reflected from the object to be measured, and grouping, for each signal strength correspondence relation showing the same portion of the object to be measured, the signal strengths of multiple reflected optical signals detected by the detection devices depending on time elapsed. The time difference between the signal strength detection times of each of the signal strengths from multiple detection devices (21, 22) is calculated for each grouped signal strength correspondence relation, and, on the basis of an installation interval (D) and said time differences between signal strength detection times, the velocity of the object to be measured at the signal strength detection time is calculated for each grouped signal strength correspondence relation. On the basis of the calculated velocity of the object to be measured, the length is calculated of the object to be measured in the advancement direction.
(FR)L'invention porte sur un procédé de traitement dans un dispositif (10) pour mesurer un objet à mesurer, lequel procédé met en œuvre l'entrée de la force d'un signal optique réfléchi à partir de l'objet à mesurer, et le groupement, pour chaque relation de correspondance de force de signal montrant la même partie de l'objet à mesurer, des forces de signal de multiples signaux optiques réfléchis détectés par les dispositifs de détection en fonction du temps écoulé. La différence de temps entre les temps de détection de force de signal de chacune des forces de signal à partir de multiples dispositifs de détection (21, 22) est calculée pour chaque relation de correspondance de force de signal groupée, et, sur la base d'un intervalle d'installation (D) et desdites différences de temps entre des temps de détection de force de signal, la vitesse de l'objet à mesurer au temps de détection de force de signal est calculée pour chaque relation de correspondance de force de signal groupée. Sur la base de la vitesse calculée de l'objet à mesurer, il est calculé la longueur de l'objet à mesurer dans la direction d'avance.
(JA)本発明に係わる測定対象物測定装置(10)における処理方法は、測定対象物の光反射信号の強度を入力し、検出装置それぞれが時間経過に応じて複数検出した光反射信号の信号強度を、測定対象物の同一部位を示す信号強度の対応関係ごとに分類する。複数の検出装置(21,22)における信号強度それぞれの信号強度検出時刻の時刻差を、分類された信号強度の対応関係ごとに算出し、当該信号強度検出時刻の時刻差と設置間隔(D)とに基づいて、信号強度検出時刻での測定対象物の速度を分類された信号強度の対応関係ごとに算出する。算出された測定対象物の速度に基づいて、測定対象物の進行方向の長さを算出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)