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1. (WO2013046309) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PROBLÈME DE DISPOSITIF DE REFROIDISSEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PROBLÈME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/046309    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/071974
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 27.09.2011
CIB :
H01L 23/473 (2006.01), B60K 11/04 (2006.01), B60L 3/00 (2006.01), H02M 7/04 (2006.01), H02M 7/48 (2007.01), H05K 7/20 (2006.01)
Déposants : TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (Tous Sauf US).
KITAZAWA, Osamu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KITAZAWA, Osamu; (JP)
Mandataire : Fukami Patent Office, p.c.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) COOLING DEVICE PROBLEM DETECTION DEVICE AND PROBLEM DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE PROBLÈME DE DISPOSITIF DE REFROIDISSEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PROBLÈME
(JA) 冷却装置の異常検出装置および異常検出方法
Abrégé : front page image
(EN)An ECU executes a program that contains: a step (S100) that acquires a first temperature (Ta) of a first semiconductor element; a step (S102) that acquires a second temperature (Tb) of a third semiconductor element; a step (S110) that assesses a status to be a clog-free normal status if the rotary speed (Nm2) of a second MG is larger than a threshold value (Nm2(0)) (YES in S104), and if the magnitude of the difference between the first temperature (Ta) and second temperature (Tb) is smaller than a threshold value (ΔT) (YES in S106); and a step (S112) that assesses that a clog has occurred at a specified site due to foreign matter, if the magnitude of the difference between the first temperature (Ta) and second temperature (Tb) is equal to or greater than the threshold value (ΔT) (NO in S106).
(FR)Un bloc de commande électronique exécute un programme qui contient : une étape (S100) qui consiste à acquérir une première température (Ta) d'un premier élément semi-conducteur ; une étape (S102) qui consiste à acquérir une seconde température (Tb) d'un troisième élément semi-conducteur ; une étape (S110) qui consiste à évaluer un statut qui doit être un statut normal sans blocage si la vitesse de rotation (Nm2) d'un second MG est supérieure à une valeur de seuil (Nm2(0)) (OUI à l'étape S104), et si l'amplitude de la différence entre la première température (Ta) et la seconde température (Tb) est inférieure à une valeur de seuil (ΔT) (OUI à l'étape S106) ; et une étape (S112) qui consiste à évaluer qu'aucun blocage ne s'est produit à un site spécifié en raison d'un corps étranger, si l'amplitude de la différence entre la première température (Ta) et la seconde température (Tb) est supérieure ou égale à la valeur de seuil (ΔT) (NON à l'étape S106).
(JA) ECUは、第1半導体素子の第1温度Taを取得するステップ(S100)と、第3半導体素子の第2温度Tbを取得するステップ(S102)と、第2MGの回転速度Nm2がしきい値Nm2(0)よりも大きい場合であって(S104にてYES)、第1温度Taと第2温度Tbとの差の大きさがしきい値ΔTよりも小さい場合(S106にてYES)、目詰まりの発生のない正常状態であると判定するステップ(S110)と、第1温度Taと第2温度Tbとの差の大きさがしきい値ΔT以上である場合(S106にてNO)、所定部位で異物による目詰まりが発生していると判定するステップ(S112)とを含む、プログラムを実行する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)