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1. (WO2013044849) SYSTÈME D'ÉTALONNAGE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'HÉLIOSTAT DE CENTRALE SOLAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/044849    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/082326
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 28.09.2012
CIB :
G05D 3/12 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : SUN, Haixiang [CN/CN]; (CN)
Inventeurs : SUN, Haixiang; (CN).
ZHU, Liang; (CN)
Mandataire : BEYOND ATTORNEYS AT LAW; F6, Xijin Centre 39 Lianhuachi East Rd., Haidian District Beijing 100036 (CN)
Données relatives à la priorité :
201110303115.4 29.09.2011 CN
Titre (EN) HELIOSTAT CALIBRATION SYSTEM AND CALIBRATION METHOD OF SOLAR POWER STATION
(FR) SYSTÈME D'ÉTALONNAGE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'HÉLIOSTAT DE CENTRALE SOLAIRE
(ZH) 太阳能发电站的定日镜校准系统及校准方法
Abrégé : front page image
(EN)A heliostat calibration system and calibration method of a solar power station, the calibration system comprising: a receiver (1), a heliostat field mounted around the receiver (1), an image sensor group for capturing the image of a reflected light spot irradiated onto a heliostat (2) by a calibration light source, and a control unit for processing the image information obtained by the image sensor group, calibrating the parameters of the heliostat (2) tracking the sun, and controlling the rotation of the heliostat; an image sensor (3) is disposed on the heliostat field, so that the reflection image of the heliostat (2) reflected outside the receiver (1) falls into the acquisition range of the image sensor group; the control unit obtains the central position of the light spot reflected by the heliostat (2) via the image information of the image sensor group, thus obtaining the to-be-calibrated error value of the heliostat (2). The calibration system determines the central position of the light spot reflected by the heliostat via the movement of the image sensor group, with quick calibration action and slight mechanical error, therefor improving calibration accuracy.
(FR)La présente invention porte sur un système d'étalonnage et un procédé d'étalonnage d'héliostat de centrale solaire, le système d'étalonnage comprenant : un récepteur (1), un champ d'héliostats monté autour du récepteur (1), un groupe de capteurs d'image pour capturer l'image d'une tache lumineuse réfléchie irradiée sur un héliostat (2) par une source lumineuse d'étalonnage, et une unité de commande pour traiter les informations d'image obtenues par le groupe de capteurs d'image, étalonner les paramètres de l'héliostat (2) suivant le soleil et commander la rotation de l'héliostat ; un capteur d'image (3) est disposé sur le champ d'héliostats, de telle sorte que l'image de réflexion de l'héliostat (2) réfléchie à l'extérieur du récepteur (1) tombe dans la plage d'acquisition du groupe de capteurs d'image ; l'unité de commande obtient la position centrale de la tache lumineuse réfléchie par l'héliostat (2) par l'intermédiaire des informations d'image du groupe de capteurs d'image, obtenant ainsi la valeur d'erreur à calibrer de l'héliostat (2). Le système d'étalonnage détermine la position centrale de la tache lumineuse réfléchie par l'héliostat par l'intermédiaire du déplacement du groupe de capteurs d'image, avec une action d'étalonnage rapide, une erreur mécanique légère, améliorant ainsi la précision d'étalonnage.
(ZH)一种太阳能发电站的定日镜校准系统及其校准方法。该校准系统包括:接收器(1);安装于接收器(1)的周围的定日镜场;用于捕捉校准光源照射在定日镜(2)上的反射光斑的图像传感器组;以及控制单元,用于处理图像传感器组获得的图像信息,并校准跟踪太阳的定日镜(2)的参数同时控制定日镜(2)转动。其中,图像传感器(3)设置于定日镜场上,使反射至接收器(1)外的定日镜(2)的反射图像落入图像传感器组的采集范围。控制单元通过图像传感器组的图像信息获得定日镜(2)反射的光斑中心位置,最终得出定日镜(2)所需校准的误差值。该校准系统通过图像传感器组的移动来确定定日镜的反射光斑中心位置,其校准动作快,机械误差小,校准精度提高。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)