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1. (WO2013044848) SYSTÈME D'ÉTALONNAGE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR HÉLIOSTAT DANS UNE CENTRALE SOLAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2013/044848    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/082325
Date de publication : 04.04.2013 Date de dépôt international : 28.09.2012
CIB :
G05D 3/12 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : SUN, Haixiang [CN/CN]; (CN)
Inventeurs : SUN, Haixiang; (CN).
ZHU, Liang; (CN)
Mandataire : BEYOND ATTORNEYS AT LAW; F6, Xijin Centre 39 Lianhuachi East Rd., Haidian District Beijing 100036 (CN)
Données relatives à la priorité :
201110303131.3 29.09.2011 CN
Titre (EN) CALIBRATION SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR HELIOSTAT IN SOLAR POWER STATION
(FR) SYSTÈME D'ÉTALONNAGE ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR HÉLIOSTAT DANS UNE CENTRALE SOLAIRE
(ZH) 太阳能发电站的定日镜校准系统及校准方法
Abrégé : front page image
(EN)A calibration system for a heliostat in a solar power station and a calibration method for the calibration system. The calibration system comprises: a receiver (1); a heliostat field mounted around the receiver (1); an image sensor group for capturing and calibrating a reflected light spot irradiated on a heliostat (2) by a light source; and a control unit. The image sensor group is movably arranged in the heliostat field. The control unit controls rotation of the heliostat (2), so that a reflected image of the heliostat (2) falls in a collection range of the image sensor group, the image sensor group moves to obtain a central position of a light spot reflected by the heliostat (2), and finally an error value required for calibration of the heliostat (2) is obtained. In the calibration system, the image sensor group moves to determine the central position of the reflected light spot of the heliostat, the calibration action is quick, the mechanical error is small, and the calibration accuracy is improved.
(FR)La présente invention porte sur un système d'étalonnage pour héliostat dans une centrale solaire et un procédé d'étalonnage pour le système d'étalonnage. Le système d'étalonnage comprend : un récepteur (1) ; un champ d'héliostats monté autour du récepteur (1) ; un groupe de capteurs d'image pour capturer et étalonner une tache lumineuse réfléchie irradiée sur un héliostat (2) par une source lumineuse ; et une unité de commande. Le groupe de capteurs d'image est agencé de manière mobile dans le champ d'héliostats. L'unité de commande commande une rotation de l'héliostat (2), de telle sorte qu'une image réfléchie de l'héliostat (2) tombe dans une plage de collecte du groupe de capteurs d'image, le groupe de capteurs d'image se déplace pour obtenir une position centrale d'une tache lumineuse réfléchie par l'héliostat (2) et finalement une valeur d'erreur requise pour étalonnage de l'héliostat (2) est obtenue. Dans le système d'étalonnage, le groupe de capteurs d'image se déplace pour déterminer la position centrale de la tache lumineuse réfléchie de l'héliostat, l'action d'étalonnage est rapide, l'erreur mécanique est petite et la précision d'étalonnage est améliorée.
(ZH)一种太阳能发电站的定日镜校准系统和该校准系统的校准方法。该校准系统包括:接收器(1);安装于接收器(1)的周围的定日镜场;用于捕捉校准光源照射在定日镜(2)上的反射光斑的图像传感器组;以及控制单元。其中,图像传感器组可移动地设置于定日镜场上,控制单元控制定日镜(2)转动,使定日镜(2)的反射图像落入图像传感器组采集范围;再通过图像传感器组的移动获得定日镜(2)反射的光斑中心位置,最终得出定日镜(2)所需校准的误差值。该校准系统通过图像传感器组的移动来确定定日镜的反射光斑中心位置,校准动作快,机械误差小,校准精度提高。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)