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Paramétrages

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1. WO2012011262 - OUTIL D'ANALYSE ET SYSTÈME DE MICROANALYSE

Numéro de publication WO/2012/011262
Date de publication 26.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/004054
Date du dépôt international 15.07.2011
CIB
G01N 21/64 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
64Fluorescence; Phosphorescence
G01N 21/05 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03Détails de structure des cuvettes
05Cuvettes à circulation de fluides
G01N 37/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
37Détails non couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
CPC
B01L 2300/0654
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
2300Additional constructional details
06Auxiliary integrated devices, integrated components
0627Sensor or part of a sensor is integrated
0654Lenses; Optical fibres
B01L 2300/0816
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
2300Additional constructional details
08Geometry, shape and general structure
0809rectangular shaped
0816Cards, e.g. flat sample carriers usually with flow in two horizontal directions
B01L 2300/0877
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
2300Additional constructional details
08Geometry, shape and general structure
0861Configuration of multiple channels and/or chambers in a single devices
0877Flow chambers
B01L 2300/0887
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
2300Additional constructional details
08Geometry, shape and general structure
0887Laminated structure
B01L 3/5027
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
3Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware
50Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
502with fluid transport, e.g. in multi-compartment structures
5027by integrated microfluidic structures, i.e. dimensions of channels and chambers are such that surface tension forces are important, e.g. lab-on-a-chip
G01N 2021/0346
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03Cuvette constructions
0346Capillary cells; Microcells
Déposants
  • 株式会社エンプラス Enplas Corporation [JP/JP]; 埼玉県川口市並木2丁目30番1号 2-30-1, Namiki, Kawaguchi-shi, Saitama 3320034, JP (AllExceptUS)
  • 小野 航一 ONO, Koichi; null (UsOnly)
Inventeurs
  • 小野 航一 ONO, Koichi; null
Mandataires
  • 鷲田 公一 WASHIDA, Kimihito; 東京都新宿区西新宿1-23-7 新宿ファーストウエスト8階 8th Floor, Shinjuku First West Bldg., 1-23-7, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
Données relatives à la priorité
2010-16501022.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ANALYSIS TOOL AND MICROANALYSIS SYSTEM
(FR) OUTIL D'ANALYSE ET SYSTÈME DE MICROANALYSE
(JA) 分析用具及びマイクロ分析システム
Abrégé
(EN)
Disclosed is an analysis tool which suppresses background and has improved sample detection sensitivity. In a first plate (11) is formed a first concavity (13) having, in the path of excitation light of a surface opposite to a bonding surface (20), a first bottom surface (13a), a first opening (13b), and a slanted surface (13c) which widens from the outer edge of the first bottom surface (13a) towards the edge of the first opening (13b). In a second plate (12), which has a flow path through which a sample flows formed on the bonding surface (20), is formed a second concavity (14) having, in the path of excitation light of a surface opposite to the bonding surface, a second bottom surface (14a), a second opening (14b), and a slanted surface (14c) which widens from the outer edge of the second bottom surface (14a) towards the edge of the second opening (14b). In the disclosed analysis tool (10), the first plate (11) is bonded to the second plate (12), and the first opening (13b) and the second opening (14b) are covered with a film (21, 22).
(FR)
L'invention concerne un outil d'analyse qui élimine le bruit de fond et présente une sensibilité de détection d'échantillon améliorée. Dans une première plaque (11) on forme une première concavité (13) présentant, sur le trajet de la lumière d'excitation d'une surface opposée à une surface de collage (20), une première surface inférieure (13a), une première ouverture (13b) et une surface inclinée (13c) qui s'élargit du bord extérieur de la première surface inférieure (13a) vers le bord de la première ouverture (13b). Dans une seconde plaque (12) qui présente un trajet d'écoulement dans lequel un échantillon s'écoule et formé sur la surface de collage (20), est formée une seconde concavité (14) comportant, sur le trajet de la lumière d'excitation d'une surface opposée à la surface de collage, une seconde surface inférieure (14a), une seconde ouverture (14b) et une surface inclinée (14c) qui s'élargit du bord extérieur de la seconde surface inférieure (14a) vers le bord de la seconde ouverture (14b). Dans l'outil d'analyse décrit (10), la première plaque (11) est collée à la seconde plaque (12) et la première ouverture (13b) et la seconde ouverture (14b) sont recouvertes d'un film (21, 22).
(JA)
 バックグラウンドを抑え、試料の検出感度を向上させる分析用具。この分析用具(10)では、接合面(20)とは反対側の面の励起光の経路内に、第1底面(13a)と、第1開口部(13b)と、第1底面(13a)の外縁から第1開口部(13b)の開口縁に向かって拡径する傾斜面(13c)とを有する第1凹部(13)が形成された第1プレート(11)と、接合面(20)に試料が流れる流路が形成され、接合面とは反対側の面の励起光の経路内に、第2底面(14a)と、第2開口部(14b)と、第2底面(14a)の外縁から第2開口部(14b)の開口縁に向かって拡径する傾斜面(14c)と、を有する第2凹部(14)が形成された第2プレート(12)と、を接合し、第1開口部(13b)及び第2開口部(14b)をフィルム(21,22)で覆う。
Également publié en tant que
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