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Paramétrages

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1. WO2012010919 - ETALONNAGE D'UN DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT PAR INJECTION DE TENSION

Numéro de publication WO/2012/010919
Date de publication 26.01.2012
N° de la demande internationale PCT/IB2010/001823
Date du dépôt international 23.07.2010
CIB
G01T 1/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16Mesure de l'intensité de radiation
24avec des détecteurs à semi-conducteurs
H04N 5/32 2006.01
HÉLECTRICITÉ
04TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
NTRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
5Détails des systèmes de télévision
30Transformation d'informations lumineuses ou analogues en informations électriques
32Transformation des rayons X
CPC
G01T 1/247
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16Measuring radiation intensity
24with semiconductor detectors
247Detector read-out circuitry
G01T 7/005
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
7Details of radiation-measuring instruments
005calibration techniques
H04N 5/32
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
5Details of television systems
30Transforming light or analogous information into electric information
32Transforming X-rays
Déposants
  • ANRAD CORPORATION [CA/CA]; 4950 Levy Street Saint-Laurent, Quebec H4R 2P1, CA (AllExceptUS)
  • HANSROUL, Marc [FR/CA]; CA (UsOnly)
  • GAUTHIER, Phillippe [CA/CA]; CA (UsOnly)
  • LAPERRIERE, Luc [CA/CA]; CA (UsOnly)
Inventeurs
  • HANSROUL, Marc; CA
  • GAUTHIER, Phillippe; CA
  • LAPERRIERE, Luc; CA
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) RADIATION DETECTOR CALIBRATION USING VOLTAGE INJECTION
(FR) ETALONNAGE D'UN DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT PAR INJECTION DE TENSION
Abrégé
(EN)
Among other things, one or more systems and/or techniques for calibrating a direct conversion detector array are provided. An electrical charge is generated on an interface of a photoconductor (e.g., amorphous selenium) of the detector array when there is a change in voltage that is applied to the photoconductor. Such a change in voltage may occur because the voltage that is supplied to the photoconductor by a power supply is changed. The changed voltage causes an electrical charge to be produced, or causes a change in the net charge density at an interface of the photoconductor, that is substantially similar to the electrical charge that may be produced when radiation impinges the detector array. In this way, calibrations of the detector array (e.g., the generation of a uniformity map, defect table, etc.) may be performed without the emission of radiation and onsite or outside of a factory setting.
(FR)
L'invention concerne, entre autres, un ou plusieurs systèmes et/ou une ou plusieurs techniques permettant d'étalonner un réseau de détecteurs à conversion directe. Une charge électrique est générée sur une interface d'un photoconducteur (par exemple, en sélénium amorphe) du réseau de détecteurs lors d'un changement de tension qui est appliquée au photoconducteur. Ce changement de tension peut se produire en raison de la modification de la tension qui est fournie au photoconducteur par une alimentation électrique. Le changement de tension entraîne la production d'une charge électrique ou un changement de densité de charge nette à une interface du photoconducteur, qui est sensiblement similaire à la charge électrique pouvant être produite quand un rayonnement frappe le réseau de détecteurs. De cette manière, l'étalonnage du réseau de détecteurs (par exemple, la génération d'une carte d'uniformité, d'un tableau de défauts, etc.) peut être effectué sans l'émission d'un rayonnement et dans ou en dehors d'une installation de fabrication.
Également publié en tant que
DE112010005764
DE1120100057648
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