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Paramétrages

Paramétrages

1. WO2012008541 - SONDE DE CONTACT ET UNITÉ DE DÉTECTION

Numéro de publication WO/2012/008541
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/066141
Date du dépôt international 14.07.2011
CIB
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
G01R 1/073 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
G01R 31/26 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H01R 33/76 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
RCONNEXIONS CONDUCTRICES DE L'ÉLECTRICITÉ; ASSOCIATION STRUCTURELLE DE PLUSIEURS ÉLÉMENTS DE CONNEXION ÉLECTRIQUE ISOLÉS LES UNS DES AUTRES; DISPOSITIFS DE COUPLAGE; COLLECTEURS DE COURANT
33Dispositifs de couplage spécialement conçus pour supporter un appareil et munis d'une pièce de couplage assurant la fonction de support et la connexion électrique par l'intermédiaire d'une pièce complémentaire qui est structurellement associée à l'appareil, p.ex. supports de lampes; Leurs pièces détachées
74Dispositifs ayant quatre pôles ou plus
76Supports avec alvéoles, pinces ou contacts analogues, adaptés pour l'engagement axial par glissement, avec des broches, lames ou contacts analogues disposés parallèlement sur la pièce complémentaire, p.ex. support pour tube électronique
CPC
G01R 1/0466
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0433Sockets for IC's or transistors
0441Details
0466concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
H01R 12/7076
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
12Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCBs], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
70Coupling devices
7076for connection between PCB and component, e.g. display
H01R 13/2435
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
13Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
02Contact members
22Contacts for co-operating by abutting
24resilient; resiliently-mounted
2435with opposite contact points, e.g. C beam
H01R 13/2442
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
13Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
02Contact members
22Contacts for co-operating by abutting
24resilient; resiliently-mounted
2442with a single cantilevered beam
H01R 13/405
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
13Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
40Securing contact members in or to a base or case; Insulating of contact members
405Securing in non-demountable manner, e.g. moulding, riveting
H01R 2201/20
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
2201Connectors or connections adapted for particular applications
20for testing or measuring purposes
Déposants
  • 日本発條株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県横浜市金沢区福浦3丁目10番地 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004, JP (AllExceptUS)
  • 茂木 孝浩 MOTEGI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 石川 浩嗣 ISHIKAWA, Koji [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 茂木 孝浩 MOTEGI, Takahiro; JP
  • 石川 浩嗣 ISHIKAWA, Koji; JP
Mandataires
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki; 東京都千代田区霞が関三丁目2番5号 霞が関ビルディング 酒井国際特許事務所 Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020, JP
Données relatives à la priorité
2010-16216516.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) CONTACT PROBE AND PROBE UNIT
(FR) SONDE DE CONTACT ET UNITÉ DE DÉTECTION
(JA) コンタクトプローブおよびプローブユニット
Abrégé
(EN)
A plate-shaped contact probe (20) connecting different substrates, and being provided with: a conduction part which comprises a first contact section (21) that has a side surface curved in an arc shape at a leading end and is in contact with one substrate at the side surface, a second contact section (22) that has a side surface curved in an arc shape and is in contact with the other substrate at the side surface, and a connection section (23) that connects the first contact section (21) and the second contact section (22); and an elastic part (24) which is formed using a metallic plate (201) having a maximum usage temperature higher than or equal to the maximum value of a usage environment temperature, extends from the second contact section (22), has a portion curved in an arc shape, and is elastically deformed by a load applied to the first contact section (21) and the second contact section (22), the conduction part including a metallic plate (202) produced from a conductive material different from the elastic part (24).
(FR)
L'invention concerne une sonde de contact en forme de plaque (20) en contact avec différents substrats, la sonde comprenant : une partie conductrice comportant une première section de contact (21) qui possède une surface latérale incurvée en arc à une extrémité avant, sa surface latérale étant en contact avec un substrat, une seconde section de contact (22) qui possède une surface latérale incurvée en arc, sa surface latérale étant en contact avec l'autre substrat, et une section connexion (23) qui connecte la première section de contact (21) et la seconde section de contact (22) ; et une partie élastique (24), qui est formée au moyen d'une plaque métallique (201) ayant une température maximale d'utilisation supérieure ou égale à la valeur maximale d'une température ambiante d'utilisation, qui se prolonge à partir de la seconde section de contact (22), possède une partie incurvée en arc et est déformée élastiquement par une charge appliquée sur la première section de contact (21) et la seconde section de contact (22), la partie conductrice comportant une plaque métallique (202) produite à partir d'un matériau conducteur différent de celui de la partie élastique (24).
(JA)
 異なる基板間を接続する板状のコンタクトプローブ(20)であって、先端部で弧状に湾曲した側面を有し、この側面で一方の基板と接触する第1接触部(21)と、弧状に湾曲した側面を有し、この側面で他方の基板と接触する第2接触部(22)と、第1接触部(21)および第2接触部(22)を接続する接続部(23)とを有する導通部と、使用環境温度の最大値以上の最高使用温度を有する金属板(201)を用いて形成され、第2接触部(22)から延び、一部が弧状に湾曲された形状をなし、第1接触部(21)および第2接触部(22)に加わる荷重によって弾性変形する弾性部(24)と、を備え、導通部は、弾性部(24)と異なる導電性材料である金属板(202)を含む。
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international