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1. WO2012008484 - DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, PROGRAMME INFORMATIQUE POUR DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, SYSTÈME DE MESURE DE CONDUCTIVITÉ ÉLECTRIQUE PRÉSENTANT LE DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CONDUCTIVITÉ ÉLECTRIQUE FAISANT APPEL AU PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT

Numéro de publication WO/2012/008484
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/065959
Date du dépôt international 13.07.2011
CIB
G01B 11/16 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
16pour mesurer la déformation dans un solide, p.ex. indicateur optique de déformation
G01B 21/32 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
32pour mesurer la déformation dans un solide
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01V 9/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
VGÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
9Prospection ou détection par des procédés non prévus dans les groupes G01V1/-G01V8/122
G01B 5/016 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
004pour mesurer les coordonnées de points
008en utilisant des machines de mesure de coordonnées
012Têtes de contact de palpeurs pour de telles machines
016Détails de structure des contacts
CPC
G01B 11/16
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
16for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
G01B 21/32
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
21Measuring arrangements or details thereof in so far as they are not adapted to particular types of measuring means of the preceding groups
32for measuring the deformation in a solid
Déposants
  • 国立大学法人静岡大学 NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION SHIZUOKA UNIVERSITY [JP/JP]; 静岡県静岡市駿河区大谷836 836 Oya,Suruga-ku,Shizuoka-shi, Shizuoka 4228529, JP (AllExceptUS)
  • 岩田 太 Iwata Futoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 塩見 俊夫 Shiomi Toshio [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 鈴木 康司 Suzuki Koji [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 岩田 太 Iwata Futoshi; JP
  • 塩見 俊夫 Shiomi Toshio; JP
  • 鈴木 康司 Suzuki Koji; JP
Mandataires
  • 居藤 洋之 Ito Hiroyuki; 静岡県浜松市東区有玉台2丁目34番31号 34-31,Aritamadai2-chome,Higashi-ku,Hamamatsu-shi, Shizuoka 4313126, JP
Données relatives à la priorité
2010-15997114.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) CONTACT STATE DETECTION DEVICE, CONTACT STATE DETECTION METHOD, COMPUTER PROGRAM FOR CONTACT STATE DETECTION, ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT SYSTEM PROVIDED WITH CONTACT STATE DETECTION DEVICE, AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT METHOD INVOLVING CONTACT STATE DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, PROGRAMME INFORMATIQUE POUR DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT, SYSTÈME DE MESURE DE CONDUCTIVITÉ ÉLECTRIQUE PRÉSENTANT LE DISPOSITIF DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CONDUCTIVITÉ ÉLECTRIQUE FAISANT APPEL AU PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉTAT DE CONTACT
(JA) 接触状態検出装置、接触状態検出方法、接触状態検出用コンピュータプログラム、接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムおよび接触状態検出方法を含む電気伝導度測定方法
Abrégé
(EN)
Disclosed are a contact state detection device with a simple structure capable of accurately detecting, without damaging a contact body (such as a probe) or a contacted body, the pressing state of the contact body pressing on the contacted body; also disclosed is an electrical conductivity measurement system provided with the contact state detection device. The contact detection device suitable for an electrical conductivity measurement system (100) is provided with a contact body approach unit (123), a probe light source (131), an imaging element (135), and a computer device (140). The contact body approach unit (123) is displaced towards the contacted body (WK) while holding the contact body (110) oriented so as to intersect the contacted surface of the contacted body (WK). The probe light source (131) irradiates light towards the contact body (110) which is displaced towards the contacted body (WK). The imaging element (135) images the illuminated contact body (110) and outputs to the computer device (140) contact body captured image information. The computer device (140) detects the pressing state of the contact body (110) pressing on the contacted body (WK) on the basis of changes in the contact body captured image information.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de détection d'état de contact présentant une structure simple, pouvant détecter précisément, sans endommager, un corps de contact (tel qu'une sonde) ou un corps mis en contact, l'état de pression du corps de contact appuyant sur le corps mis en contact; l'invention concerne également un système de mesure de conductivité électrique présentant le dispositif de détection d'état de contact. Le dispositif de détection de contact approprié pour un système de mesure de conductivité électrique (100) présente une unité d'approche de corps de contact (123), une source de lumière de sonde (131), un élément d'imagerie (135), et un dispositif informatique (140). L'unité d'approche de corps de contact (123) est déplacée vers le corps de contact (WK) tout en retenant le corps de contact (110) orienté de manière à croiser la surface mise en contact du corps mis en contact (WK). La source de lumière de sonde (131) irradie la lumière vers le corps de contact (110) qui est déplacé vers le corps mis en contact (WK). L'élément d'imagerie (135) image le corps de contact éclairé (110) et envoie les informations d'image capturées du corps de contact au dispositif informatique (140). Le dispositif informatique (140) détecte l'état de pression du corps de contact (110) pressant sur le corps mis en contact (WK) sur la base de modifications au niveau des informations d'images capturées du corps de contact.
(JA)
プローブなどの接触体や被接触物を損傷することなく簡単な構成で精度良く接触体の被接触物への押圧状態を検出することができる接触状態検出装置および接触状態検出装置を備える電気伝導度測定システムを提供する。 電気伝導度測定システム100に適用された接触検出装置は、接触体アプローチ部123、プローブ光源131、撮像素子135およびコンピュータ装置140を備えている。接触体アプローチ部123は、被接触物WKにおける被接触面に交わる姿勢で接触体110を保持しつつ被接触物WKに向って変位させる。プローブ光源131は、被接触物WKに向って変位する接触体110に向って光を照射する。撮像素子135は、光が照射された接触体110を撮像して接触体撮像画像情報をコンピュータ装置140に出力する。コンピュータ装置140は、接触体撮像画像情報の変化に基づいて接触体110の被接触物WKへの押圧状態を検出する。
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