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1. WO2012008324 - DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE, PROCÉDÉ D'ANALYSE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATION

Numéro de publication WO/2012/008324
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/065277
Date du dépôt international 04.07.2011
CIB
G01N 35/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
CPC
B01F 11/0266
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING, DISPERSING
11Mixers with shaking, oscillating, or vibrating mechanisms
02Mixing by means of ; high-frequency, e.g.; ultrasonic vibrations ; , e.g. jets impinging against a vibrating plate
0266with vibrating the receptacle or part of it
B01F 15/00214
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
FMIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING, DISPERSING
15Accessories for mixers ; ; Auxiliary operations or auxiliary devices; Parts or details of general application
00123Controlling; Testing; Measuring
00207Measuring properties of the mixtures, e.g. temperature, density, colour, vibration, noise
00214Measuring colour or luminiscence
G01N 2035/00465
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00465Separating and mixing arrangements
G01N 2035/00702
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00584Control arrangements for automatic analysers
00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
00693Calibration
00702Curve-fitting; Parameter matching; Calibration constants
G01N 2035/0097
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
00584Control arrangements for automatic analysers
0097monitoring reactions as a function of time
G01N 21/272
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
272for following a reaction, e.g. for determining photometrically a reaction rate (photometric cinetic analysis)
Déposants
  • 株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP (AllExceptUS)
  • 神原 久美子 KAMIHARA Kumiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 光山 訓 MITSUYAMA Satoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 三村 智憲 MIMURA Tomonori [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 万里 千裕 MANRI Chihiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 神原 久美子 KAMIHARA Kumiko; JP
  • 光山 訓 MITSUYAMA Satoshi; JP
  • 三村 智憲 MIMURA Tomonori; JP
  • 万里 千裕 MANRI Chihiro; JP
Mandataires
  • 春日 讓 KASUGA Yuzuru; 東京都中央区日本橋本町三丁目4番1号トリイ日本橋ビル Torii-nihonbashi Bldg. 4-1, Nihonbashi-honcho 3-chome Chuo-ku, Tokyo 1030023, JP
Données relatives à la priorité
2010-15999514.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD AND INFORMATION PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE, PROCÉDÉ D'ANALYSE ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATION
(JA) 自動分析装置、分析方法及び情報処理装置
Abrégé
(EN)
An automatic analysis device is provided with: a sample dispensing mechanism (5) for dispensing a sample in a sample container (16) in which the sample to be measured is accommodated into a reaction container (21) that mixes and reacts the sample and a reagent; a reagent dispensing mechanism (6) for dispensing the reagent in a reagent container (18) in which the reagent to be reacted with the sample is accommodated into the reaction container; a stirring mechanism (7) for stirring the liquid mixture of the sample and the reagent, which is accommodated in the reaction container (21); and a measuring unit (8) for acquiring a plurality of sets of measurement point data in the reaction process of the liquid mixture. The automatic analysis device selects one approximate expression from one or more approximate expressions for generating an approximate curve from the measurement point data, generates an approximate curve from the plurality of sets of measurement point data, calculates a shape-feature amount from the approximate curve, and performs abnormality determination using the shape-feature amount. As a result, an abnormality can be sufficiently detected from individual measurement results, and a factor for the abnormality can be identified.
(FR)
Le dispositif d'analyse automatique selon l'invention comporte : un mécanisme de distribution d'échantillon (5) servant à distribuer un échantillon dans un récipient d'échantillon (16) dans lequel l'échantillon à mesurer est logé dans un réacteur (21) qui mélange et fait réagir l'échantillon avec un réactif ; un mécanisme de distribution de réactif (6) servant à distribuer un réactif dans un récipient de réactif (18) dans lequel le réactif qui doit réagir avec l'échantillon est logé dans le réacteur ; un mécanisme d'agitation (7) servant à agiter le mélange liquide échantillon-réactif, qui est logé dans le réacteur (21) ; et une unité de mesure (8) servant à acquérir une pluralité d'ensembles de données de point de mesure dans le processus de réaction du mélange liquide. Le dispositif d'analyse automatique sélectionne une expression approximative parmi une ou plusieurs expression approximatives servant à générer une courbe approximative parmi la pluralité d'ensembles de données de point de mesure, calcule une quantité d'attribut de forme à partir de la courbe approximative, et effectue une détection d'anomalie en utilisant la quantité d'attribut de forme. Ainsi, une anomalie peut être suffisamment détectée à partir de résultats de mesure individuels, et un facteur pour l'anomalie peut être identifié.
(JA)
 測定対象の試料を収容した試料容器16の試料を、試料と試薬とを混合して反応させる反応容器21反応容器に分注する試料分注機構5と、試料と反応させる試薬を収容した試薬容器18の試薬を反応容器に分注する試薬分注機構6と、反応容器21に収容された試料と試薬の混合液を攪拌する攪拌機構7と、混合液の反応過程における複数の測定点データを取得する測定部8とを備えた自動分析装置において、測定点データから近似曲線を生成するための1つ以上の近似式から1つの近似式を選択し、複数の測定点データから近似曲線を生成して、近似曲線から形状特徴量を算出し、その形状特徴量を用いて異常判定を行う。これにより、個々の測定結果から十分に異常を検出することができ、かつ、異常の要因を特定することができる。
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