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Paramétrages

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1. WO2012008144 - APPAREIL DE DÉTECTION DES DÉFAUTS PAR ULTRASONS ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DES DÉFAUTS PAR ULTRASONS

Numéro de publication WO/2012/008144
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/003976
Date du dépôt international 12.07.2011
CIB
G01N 29/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
04Analyse de solides
G01N 29/44 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
44Traitement du signal de réponse détecté
CPC
G01N 2291/044
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
G01N 2291/056
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
056Angular incidence, angular propagation
G01N 29/043
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
04Analysing solids
043in the interior, e.g. by shear waves
G01N 29/262
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
22Details ; , e.g. general constructional or apparatus details
26Arrangements for orientation or scanning ; by relative movement of the head and the sensor
262by electronic orientation or focusing, e.g. with phased arrays
G01N 29/341
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
34Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves ; , e.g. electronic circuits specially adapted therefor
341with time characteristics
G01N 29/4472
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
44Processing the detected response signal ; , e.g. electronic circuits specially adapted therefor
4472Mathematical theories or simulation
Déposants
  • 株式会社 東芝 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 東京都港区芝浦一丁目1番1号 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001, JP (AllExceptUS)
  • 三浦 崇広 MIURA, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山本 摂 YAMAMOTO, Setsu [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 落合 誠 OCHIAI, Makoto [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 星 岳志 HOSHI, Takeshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 渡部 和美 WATANABE, Kazumi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 長井 敏 NAGAI, Satoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 吉田 昌弘 YOSHIDA, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 安達 弘幸 ADACHI, Hiroyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 三橋 忠浩 MITSUHASHI, Tadahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山本 智 YAMAMOTO, Satoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 三浦 崇広 MIURA, Takahiro; JP
  • 山本 摂 YAMAMOTO, Setsu; JP
  • 落合 誠 OCHIAI, Makoto; JP
  • 星 岳志 HOSHI, Takeshi; JP
  • 渡部 和美 WATANABE, Kazumi; JP
  • 長井 敏 NAGAI, Satoshi; JP
  • 吉田 昌弘 YOSHIDA, Masahiro; JP
  • 安達 弘幸 ADACHI, Hiroyuki; JP
  • 三橋 忠浩 MITSUHASHI, Tadahiro; JP
  • 山本 智 YAMAMOTO, Satoshi; JP
Mandataires
  • 菊池 治 KIKUCHI, Osamu; 東京都千代田区神田美倉町3番地 コスモビル7階 アイリス国際特許事務所 IRIS INTERNATIONAL PATENT OFFICE, COSMO BLDG. 7TH FL., 3, KANDAMIKURA-CHO, CHIYODA-KU, Tokyo 1010038, JP
Données relatives à la priorité
2010-15816712.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ULTRASONIC FLAW DETECTING APPARATUS AND ULTRASONIC FLAW DETECTING METHOD
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION DES DÉFAUTS PAR ULTRASONS ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DES DÉFAUTS PAR ULTRASONS
(JA) 超音波探傷装置および超音波探傷方法
Abrégé
(EN)
Disclosed is an ultrasonic flaw detecting apparatus that is provided with: an ultrasonic probe (1), which applies ultrasonic waves, by driving a plurality of ultrasonic elements, to a subject (2) to be inspected, and which receives reflected ultrasonic waves from the subject (2); and an analytical means (7), which analyzes the signals of the reflected ultrasonic waves received by the ultrasonic probe (1), and which calculates the flaw detection results. The analytical means (7) calculates the flaw detection results using an ultrasonic wave propagation path obtained on the basis of the surface information of the subject (2) having the ultrasonic waves applied thereto, thereby obtaining highly accurate detection results even the surface of the subject is formed in a complicated shape.
(FR)
L'invention porte sur un appareil de détection des défauts par ultrasons, lequel appareil comporte : une sonde ultrasonique (1), qui applique des ondes ultrasoniques, par commande d'une pluralité d'éléments ultrasoniques, à un objet (2) à inspecter, et qui reçoit des ondes ultrasoniques réfléchies à partir de l'objet (2) ; et un moyen d'analyse (7), qui analyse les signaux des ondes ultrasoniques réfléchies reçues par la sonde ultrasonique (1), et qui calcule les résultats de détection des défauts. Le moyen d'analyse (7) calcule les résultats de détection des défauts à l'aide d'une trajectoire de propagation d'onde ultrasonique obtenue sur la base de l'information de surface de l'objet (2) auxquels sont appliquées les ondes ultrasoniques, de façon à obtenir ainsi des résultats de détection hautement précis même si la surface de l'objet est formée sous une forme compliquée.
(JA)
 複数の超音波素子を駆動して検査対象(2)に超音波を入射し、その検査対象(2)からの反射超音波を受信する超音波プローブ(1)と、超音波プローブ(1)が反射超音波を受信した受信信号を解析して探傷結果を算出する解析手段(7)とを備える。解析手段(7)は、超音波が入射する検査対象(2)の表面情報に基づいて求めた超音波の伝搬経路を用いて探傷結果を算出することにより、検査対象の表面が複雑な形状に形成された場合でも、精度の高い検出結果が得られる。
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