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Paramétrages

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1. WO2012007986 - CIRCUIT DE MESURE, ET DISPOSITIF D'ESSAI

Numéro de publication WO/2012/007986
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2010/004516
Date du dépôt international 12.07.2010
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/31703
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31703Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
G01R 31/31924
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31924Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
G01R 31/31932
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31932Comparators
Déposants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro; JP
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka; JP
Mandataires
  • 龍華国際特許業務法人 RYUKA IP Law Firm; 東京都新宿区西新宿1-6-1 新宿エルタワー22階 22F, Shinjuku L Tower, 6-1, Nishi-Shinjuku 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631522, JP
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) MEASUREMENT CIRCUIT, AND TESTING DEVICE
(FR) CIRCUIT DE MESURE, ET DISPOSITIF D'ESSAI
(JA) 測定回路および試験装置
Abrégé
(EN)
Disclosed is a measurement circuit for measuring an inputted signal to be measured. Specifically disclosed is a measurement circuit provided with: a level comparison unit for outputting a logical value in accordance with the results of comparing the signal level of a signal to be measured with a preset threshold level; a logic comparison unit for acquiring the logical value outputted by the level comparison unit at an inputted comparison timing; and a timing adjustment unit for adjusting, on the basis of the expected value pattern of the signal to be measured and the threshold level, the relative phase of the comparison timing and the signal outputted by the level comparison unit, and for inputting the aforementioned relative phase to the logic comparison unit.
(FR)
L'invention concerne un circuit de mesure servant à mesurer un signal entré à mesurer. Elle concerne spécifiquement un circuit de mesure comportant : une unité de comparaison de niveau servant à produire une valeur logique en fonction des résultats de comparaison du niveau de signal d'un signal à mesurer avec un niveau de seuil prédéfini ; une unité de comparaison logique servant à acquérir la valeur logique produite par l'unité de comparaison de niveau à une synchronisation de comparaison entrée ; et une unité d'ajustement de synchronisation servant à ajuster, sur la base du motif de valeur attendu du signal à mesurer et du niveau de seuil, la phase relative de synchronisation de comparaison et du signal produit par l'unité de comparaison de niveau, et à entrer la phase relative susmentionnée dans l'unité de comparaison logique.
(JA)
 入力される被測定信号を測定する測定回路であって、被測定信号の信号レベルと、設定される閾値レベルとの比較結果に応じた論理値を出力するレベル比較部と、レベル比較部が出力する論理値を、入力される比較タイミングで取得する論理比較部と、レベル比較部が出力する信号と、比較タイミングとの相対位相を、被測定信号の期待値パターンおよび閾値レベルに基づいて調整して、論理比較部に入力するタイミング調整部とを備える測定回路を提供する。
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