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1. WO2012005019 - PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, ET SUBSTRAT DE VERRE

Numéro de publication WO/2012/005019
Date de publication 12.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/053749
Date du dépôt international 21.02.2011
CIB
C03C 19/00 2006.01
CCHIMIE; MÉTALLURGIE
03VERRE; LAINE MINÉRALE OU DE SCORIES
CCOMPOSITION CHIMIQUE DES VERRES, GLAÇURES OU ÉMAUX VITREUX; TRAITEMENT DE LA SURFACE DU VERRE; TRAITEMENT DE SURFACE DES FIBRES OU FILAMENTS DE VERRE, DE SUBSTANCES MINÉRALES OU DE SCORIES; LIAISON DU VERRE AU VERRE OU À D'AUTRES MATÉRIAUX
19Traitement de surface du verre, autre que sous forme de fibres ou de filaments, par des procédés mécaniques
G02F 1/1333 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
FDISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
1Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source lumineuse indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
01pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
13basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
133Dispositions relatives à la structure; Excitation de cellules à cristaux liquides; Dispositions relatives aux circuits
1333Dispositions relatives à la structure
CPC
B24B 49/10
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
24GRINDING; POLISHING
BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING
49Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
10involving electrical means
B24B 49/12
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
24GRINDING; POLISHING
BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING
49Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
12involving optical means
B24B 9/10
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
24GRINDING; POLISHING
BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING
9Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
02characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
06of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
08of glass
10of plate glass
C03C 19/00
CCHEMISTRY; METALLURGY
03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES, OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
19Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by mechanical means
G01N 2021/9513
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9513Liquid crystal panels
G01N 21/95
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
Déposants
  • 旭硝子株式会社 Asahi Glass Company, Limited. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目5番1号 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405, JP (AllExceptUS)
  • 宮本 幹大 MIYAMOTO Mikio [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 鳥井 秀晴 TORII Hideharu [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 木村 友紀 KIMURA Tomonori [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 宮本 幹大 MIYAMOTO Mikio; JP
  • 鳥井 秀晴 TORII Hideharu; JP
  • 木村 友紀 KIMURA Tomonori; JP
Mandataires
  • 小栗 昌平 OGURI Shohei; 東京都港区西新橋一丁目7番13号 虎ノ門イーストビルディング10階 栄光特許事務所 Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003, JP
Données relatives à la priorité
2010-15598708.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) GLASS SUBSTRATE END SURFACE EVALUATION METHOD, GLASS SUBSTRATE END SURFACE PROCESSING METHOD, AND GLASS SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT DE LA SURFACE EN BOUT D'UN SUBSTRAT DE VERRE, ET SUBSTRAT DE VERRE
(JA) ガラス基板端面の評価方法及びガラス基板端面の加工方法並びにガラス基板
Abrégé
(EN)
Disclosed are: a glass substrate end surface evaluation method that enables the characteristics of an end surface of a glass substrate to be accurately evaluated; a glass substrate end surface processing method based on the evaluation method; and a glass substrate for which the adhesion of dust on the glass substrate end surface can be reduced on the basis of the processing method, and for which the occurrence of defects such as burning, chipping, and cracking can be prevented on a chamfered surface on the basis of the processing method. According to the glass substrate end surface evaluation method, the glass substrate end surface processing method, and the glass substrate, an image of an end surface (Z) taken with a laser microscope (14) undergoes black and white binarization processing whereby recesses that exist on the end surface are identified as white images, and mirrored surfaces on the end surface are identified as black images, and the characteristics of the end surface of the glass substrate are evaluated on the basis of the ratio of the area of the white images to the area of the black images. The characteristics of an end surface (Z) of a glass substrate (G) can be more accurately evaluated by this evaluation method than the evaluation methods of the prior art, which involve stylus profilometers, whereby the reliability of the accuracy depends on the size of the recesses that exist on an end surface (Z).
(FR)
L'invention porte sur un procédé d'évaluation de la surface en bout d'un substrat de verre, qui permet d'évaluer avec précision les caractéristiques d'une surface en bout d'un substrat de verre ; sur un procédé de traitement de la surface en bout d'un substrat de verre se fondant sur le procédé d'évaluation ; et sur un substrat de verre pour lequel il est possible de réduire, sur la base du procédé de traitement, l'adhérence des poussières à la surface en bout du substrat de verre, et pour lequel il est possible d'empêcher l'apparition de défauts tels qu'une brûlure, un écaillage et une craquelure sur une surface chanfreinée, sur la base du procédé de traitement. Conformément au procédé d'évaluation d'une surface en bout d'un substrat de verre, au procédé de traitement de la surface en bout du substrat de verre, ainsi qu'au substrat de verre, une image d'une surface en bout (Z), prise à l'aide d'un microscope à laser (14), subit un traitement de binarisation en noir et blanc, grâce auquel les renfoncements qui existent sur la surface en bout sont identifiés comme étant des images blanches, et les surfaces miroirs, sur la surface en bout, sont identifiées comme étant des images noires, et les caractéristiques de la surface en bout du substrat de verre sont évaluées sur la base du rapport entre l'aire des images blanches et l'aire des images noires. Les caractéristiques d'une surface en bout (Z) d'un substrat de verre (G) peuvent, par ce procédé d'évaluation, être évaluées plus précisément qu'avec les procédés d'évaluation de la technique antérieure, qui mettent en jeu des profilomètres à stylet, la fiabilité de la précision dépendant de la taille des renfoncements qui existent sur une surface en bout (Z).
(JA)
 本発明は、ガラス基板の端面の性状を正確に評価することができるガラス基板端面の評価方法、及びこの評価方法に基づいたガラス基板端面の加工方法、並びにこの加工方法に基づいて、ガラス基板端面の塵付着を低減できるガラス基板、更にこの加工方法に基づき面取り面においてヤケ、チッピング、欠け等の欠点発生を防止することができるガラス基板を提供する。 本発明によれば、レーザ顕微鏡14によって撮像した端面Zの画像を白黒二値化処理し、端面に存在する凹部を白画像、端面の鏡面を黒画像として識別し、そして、黒画像の面積に対する白画像の面積の比率に基づいてガラス基板の端面の性状を評価する。この評価方法によれば、精度の信頼性が端面Zに存在する凹部の大きさに依存する従来の触針式粗さ計による評価方法と比較して、ガラス基板Gの端面Zの性状をより正確に評価することができる。
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