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1. (WO2011163353) SOURCES LASER À DOUBLE FRÉQUENCE À LA DEMANDE POUR SYSTÈMES D'IMAGERIE À MICROSCOPIE OPTIQUE ET À MICRO-SPECTROSCOPIE NON LINÉAIRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/163353 N° de la demande internationale : PCT/US2011/041441
Date de publication : 29.12.2011 Date de dépôt international : 22.06.2011
CIB :
G01J 3/10 (2006.01) ,G01N 21/01 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
02
Parties constitutives
10
Aménagements de sources lumineuses spécialement adaptées à la spectrométrie ou à la colorimétrie
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
Déposants :
XU, Chris [US/US]; US (UsOnly)
XIE, Xiaoliang, Sunney [CN/US]; US (UsOnly)
FREUDIGER, Christian, W. [DE/US]; US (UsOnly)
WANG, Ke [CN/US]; US (UsOnly)
SAAR, Brian, G. [US/US]; US (UsOnly)
LEE, Jennifer, H. [US/US]; US (UsOnly)
PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE [US/US]; 17 Quincy Street Cambridge, MA 02138, US (AllExceptUS)
CORNELL RESEARCH FOUNDATION, INC. [US/US]; 20 Thornwood Drive, Suite 105 Ithaca, NY 14850, US (AllExceptUS)
Inventeurs :
XU, Chris; US
XIE, Xiaoliang, Sunney; US
FREUDIGER, Christian, W.; US
WANG, Ke; US
SAAR, Brian, G.; US
LEE, Jennifer, H.; US
Mandataire :
HILTON, William, E.; Gauthier & Connors LLP 225 Franklin Street, Suite 2300 Boston, MA 02110, US
Données relatives à la priorité :
61/357,32822.06.2010US
Titre (EN) ON-DEMAND DUAL FREQUENCY LASER SOURCES FOR NON-LINEAR OPTICAL MICROSCOPY AND MICRO-SPECTROSCOPY IMAGING SYSTEMS
(FR) SOURCES LASER À DOUBLE FRÉQUENCE À LA DEMANDE POUR SYSTÈMES D'IMAGERIE À MICROSCOPIE OPTIQUE ET À MICRO-SPECTROSCOPIE NON LINÉAIRES
Abrégé :
(EN) An illumination system is disclosed for use in non-linear modulation transfer microscopy and micro-spectroscopy. The illumination system includes a laser system for providing a first train of pulses at a center optical frequency ω1, and an optical assembly for collinearly combining a first train of pulses with a second train of pulses having a center optical frequency of ω2 as synchronized excitation fields for non¬ linear modulation transfer microscopy and micro-spectroscopy. The laser system includes a continuous wave laser for providing a first continuous wave field, a first chirp modulator system comprising a means to receive the first continuous wave field, a means to receive a trigger signal, a first phase modulator and a first electro-optic modulator; and a first pulse compression unit.
(FR) L'invention porte sur un système d'éclairage destiné à être utilisé dans la micro-spectroscopie et la microscopie à transfert à modulation non linéaires. Le système d'éclairage comprend un système de laser pour fournir un premier train d'impulsions à une fréquence optique centrale ω1, et un ensemble optique pour combiner de façon colinéaire un premier train d'impulsions à un second train d'impulsions ayant une fréquence optique centrale ω2 sous la forme de champs d'excitation synchronisés pour une micro-spectroscopie et une microscopie à transfert à modulation non linéaires. Le système de laser comprend un laser à onde continue pour fournir un premier champ d'onde continue, un premier système de modulateur de fluctuation de longueur d'onde comportant un moyen pour recevoir le premier champ d'onde continue, un moyen pour recevoir un signal de déclenchement, un premier modulateur de phase et un premier modulateur électro-optique, et une première unité de compression d'impulsion.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)