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1. (WO2011160001) MÉMOIRE NON VOLATILE COMPRENANT DES ENTREFERS DE LIGNE DE BITS ET DES ENTREFERS DE LIGNE DE MOTS ET PROCÉDÉ DE FABRICATION CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/160001 N° de la demande internationale : PCT/US2011/040859
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 17.06.2011
CIB :
H01L 21/8247 (2006.01) ,H01L 27/115 (2006.01) ,H01L 21/764 (2006.01)
Déposants : PURAYATH, Vinod, Robert[IN/US]; US (UsOnly)
MATAMIS, George[US/US]; US (UsOnly)
HARARI, Eli[US/US]; US (UsOnly)
KINOSHITA, Hiroyuki[US/US]; US (UsOnly)
PHAM, Tuan[US/US]; US (UsOnly)
SANDISK TECHNOLOGIES, INC.[US/US]; Two Legacy Town Center 6900 North Dallas Parkway Plano, TX 75024, US (AllExceptUS)
Inventeurs : PURAYATH, Vinod, Robert; US
MATAMIS, George; US
HARARI, Eli; US
KINOSHITA, Hiroyuki; US
PHAM, Tuan; US
Mandataire : CROMER, David, E.; Vierra Magen Marcus & DeNiro, LLP 575 Market Strret, Suite 2500 San Francisco, CA 94105, US
Données relatives à la priorité :
13/162,47516.06.2011US
61/356,60319.06.2010US
61/356,63020.06.2010US
Titre (EN) NON-VOLATILE MEMORY COMPRISING BIT LINE AIR GAPS AND WORD LINE AIR GAPS AND CORRESPONDING MANUFACTURING METHOD
(FR) MÉMOIRE NON VOLATILE COMPRENANT DES ENTREFERS DE LIGNE DE BITS ET DES ENTREFERS DE LIGNE DE MOTS ET PROCÉDÉ DE FABRICATION CORRESPONDANT
Abrégé : front page image
(EN) Air gap isolation in non-volatile memory arrays and related fabrication processes are provided. Electrical isolation between adjacent active areas of a substrate can be provided, at least in part, by bit line air gaps (436) that are elongated in a column direction between the active areas. At least one cap (434) is formed over each isolation region, at least partially overlying air to provide an upper endpoint for the corresponding air gap. The caps may be formed at least partially along the sidewalls of adjacent charge storage regions. In various embodiments, selective growth processes are used to form capping strips over the isolation regions to define the air gaps. Word line air gaps (487) that are elongated in a row direction between adjacent rows of storage elements are also provided. The selective growth processes involve a modification of the surface of the charge storage regions, either by deposition of a catalyst layer or by ion implantation.
(FR) La présente invention concerne une isolation d'entrefer dans des ensembles de mémoire non volatile et des processus de fabrication apparentés. Une isolation électrique entre des zones actives adjacentes d'un substrat peut être fournie, au moins en partie, par des entrefers de ligne de bits (436) allongés dans une direction de colonne entre les zones actives. Au moins un chapeau (434) est formé au-dessus de la zone d'isolation, recouvrant au moins en partie l'air pour fournir un point d'extrémité supérieur pour l'entrefer correspondant. Les chapeaux peuvent être formés au moins en partie le long des parois latérales de zones de stockage de charge adjacentes. Dans divers modes de réalisation, des processus de croissance sélective sont utilisés pour former des bandes de fermeture au-dessus de chaque zone d'isolation pour définir les entrefers. Des entrefers de ligne de mots (487) allongés dans une direction de rangée entre des rangées d'éléments de stockage sont également fournis. Les processus de croissance sélective impliquent une modification de la surface des zones de stockage de charge, soit par dépôt d'une couche de catalyseur soit par implantation d'ion.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)